Energy Filament Theory · EFT Full KB

中子近场 OAM 手性散射的“对消指纹”(外负—内正的可逆特征)

V33-33.60 · F 证据节 / 显影节 ·

33.60 把中子近场 OAM 散射压成一条“内外分区反号 + 零交叉半径 b0 + OAM 翻转可逆 + 净效应近抵消”的对消指纹协议:若 Δφ(b) 在 b 扫描中稳定过零,b<b0 与 b>b0 反号,且 Δφ(b,+ℓ) = −Δφ(b,−ℓ) 与低 K 指标跨批次站住,而质子同口径对照不呈现同样结构,它就直接回收 V02-2.22 已立的‘中性=对消式配平而非无结构’接口。按 compat adjudication,本章被判为 retain:它与 V02-2.22 / V09-9.16 的现行术语直接同向,但它只结中子近场对消指纹这一本账,不替中子本体或 β 改谱总案单章结案。

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Keywords: 中子, OAM, 对消指纹, 零交叉半径, b0, 内外反号, K 指标, 可逆性 R, 质子对照, 自旋态控制, 标签置换, 近场配平

Section knowledge units

thesis

33.60 的真正转向,是把‘中子没电所以没信号’的直觉,改写成一条对消式配平显影协议:关键不是相位总和接不接近零,而是在 b 扫描里,Δφ 是否稳定呈现内外反号、过零点与近抵消。按 compat adjudication,本章被判为 retain。

mechanism

本章把主读数压成五块:Δφ(b,ℓ)、零交叉半径 b0、内外反号指标 C、对消程度指标 K,以及 OAM 翻转可逆性 R。真正值钱的,不是某个 b 档位相位偏移碰巧为零,而是这些量能否共同写成“内外反号、翻转可逆、净效应近抵消”的稳定对消指纹链。

evidence

执行链必须把对象与读出、OAM 模式与切换、b 标定与扫描、盲化、自旋态控制和质子同口径对照拆开记。分析组不能在看到过零点后回改 b 档位、过零拟合或模式纯度阈值;质子对照和弱耦合/远离近场空检必须与主实验同链路并跑,才能把‘反号’从几何链路里剥出来。

evidence

支持线不是“某条曲线在中间过一次零”。只有当 Δφ 在 b 扫描中存在稳定 b0、b<b0 与 b>b0 统计上稳定反号、Δφ(b,+ℓ) = −Δφ(b,−ℓ) 对每个 b 档位都站住,而且 K 显著小于 1 并显著小于质子同口径对照时,本章才配被记成中子近场对消指纹硬账。

boundary

本章最危险的旧账有四本:b 标定误差与束心漂移伪造过零点、OAM 模式混叠与相位板误差制造假反号、自旋态漂移引入符号混乱,以及标签置换后仍保留结构的分析偏置。只要这些旧账能复制同等级‘内外反号+过零’,或质子同口径也出现同样结构,本章就必须直接退回装置/链路偏置账。

summary

33.60 最后钉死的一句话是:若中子近场的 OAM 手性散射在 b 扫描中稳定呈现‘内外分区反号 + 零交叉半径’,并在 ℓ 翻转下保持可逆对称且质子对照可分,就支持本章预测;若该结构不存在、不可复现或空检同样显著,就否证。本章只负责结这一笔近场对消指纹账。