目录文档-技术白皮书13-EFT.WP.Methods.SimStack v1.0

第10章 观测数据对齐与拟合回路


I. 范围与目标


II. 术语与符号

  1. 观测与映射
    • y_obs(ts)(观测量),x_sim(tau_mono)(仿真态),H(观测映射),y_sim(ts ; theta) = H( x_sim( tau_mono(ts) ) ; theta )。
    • theta(待估参数向量),pri(theta)(先验),bnds(约束域)。
  2. 噪声与谱量
    加性噪声 eta(ts),y_obs = y_true + eta,E[eta]=0,cov(eta)=Sigma,S_eta(f)(噪声谱密度),U_w,ENBW(有效噪声带宽)。
  3. 时间与两口径
    时基映射 ts = alpha + beta * tau_mono;到达时
    • 因子化口径:T_arr.factorized = ( 1 / c_ref ) * ( ∫_{gamma(ell)} n_eff d ell )
    • 一般口径:T_arr.general = ( ∫_{gamma(ell)} ( n_eff / c_ref ) d ell )
    • 口径差:delta_form = T_arr.general - T_arr.factorized。
  4. 残差与目标
    • 原始残差 r(ts) = y_obs(ts) - y_sim(ts ; theta);白化残差 r_w = W * r,其中 W 来自 S_eta(f) 的逆白化滤波。
    • 目标函数 J(theta, alpha, beta) = ( r_w^T r_w ) / N。

III. 公设与最小方程(P61-/S62-

  1. P61-21(可比口径先于拟合)
    未完成单位一致、时基对齐与两口径并行报告时,禁止进入参数拟合阶段。
  2. P61-22(路径证据强制)
    任何涉及 T_arr 的对齐或拟合,必须落盘路径族 gamma(ell)、测度 d ell 与介质口径。
  3. P61-23(证伪优先)
    若白化残差未通过独立同分布检验或 delta_form 越门,应优先调整映射与模型假设,而非强行优化 theta。
  4. S62-70(时间对齐估计)
    • 以参考事件或相关谱峰估计 alpha_hat, beta_hat:(alpha_hat , beta_hat) = argmin ( ∑ w_i * ( t_obs,i - ( alpha + beta * t_sim,i ) )^2 )。
    • 输出 sigma_ts 与对齐置信区间。
  5. S62-71(两口径并行与报差)
    计算 T_arr.general 与 T_arr.factorized,发布 delta_form 及其与 gamma(ell) 的对应关系。
  6. S62-72(等价路径处理)
    • 若路径不可枚举,引入等价类 E_k 与权重 w_k ≥ 0,∑ w_k = 1:
      T_arr.eqv = ∑_k w_k * T_arr( E_k )。
    • 发布 w_k 的获取口径(几何、功率或能量权重)。
  7. S62-73(白化最小二乘 / MAP)
    若先验为高斯:theta_MAP = argmin ( J(theta, alpha, beta) + ( theta - mu )^T Sigma_theta^{-1} ( theta - mu ) )。
  8. S62-74(置信评估与近似协方差)
    近似协方差 cov(theta) ≈ ( J''(theta_MAP) )^{-1};或以自助法得到 CI_p。
  9. S62-75(适配度门与证伪条件)
    卡方门:J(theta_MAP) ~ chi2(N - dim(theta));若拒绝域内,判定模型不适配,进入证伪分支。

IV. 数据与清单口径

  1. 必备字段(最小集)
    • obs.schema.version,units.*(统一单位),timebase.alpha/beta/sigma_ts,T_arr.general/factorized/delta_form,paths.gamma.list,medium.ref,c_ref。
    • H.id,H.params,theta.init,theta.map,theta.cov,pri(theta),bnds。
    • 噪声:S_eta(f),U_w,ENBW,白化滤波 W.id。
    • 残差:J,r.stats,r_w.tests(独立性、正态性、谱白化),p_value。
    • 审计:audit.trail,seed,cfg,cap,quota,placement/policy。
  2. 校核要求
    check_dim(expr) 在每次口径变换后执行;对 y_obs 与 y_sim 的单位字段强制一致。

V. 算法与实现绑定(I60-*)


VI. 计量流程与运行图(Mx-65 obs-align&fit-loop)


VII. 验证与测试矩阵

  1. 最小必测
    • sigma_ts ≤ gate_ts;|delta_form| ≤ gate_form;白化残差的 Ljung–Box 检验通过(给出 p_value)。
    • 卡方门:J ≤ chi2_q(N - dim(theta))(给出置信水平 q)。
    • 预测检验:K 折交叉验证 RMSE_cv、MAE_cv 达门限。
  2. 边界与极端
    低信噪(SNR < gate_snr)与稀疏采样;多路径高度退化(权重集中或扁平);beta → 1 ± ε 的时钟漂移。
  3. 回归与门限
    对每次更改 H、S_eta(f) 或口径,重复全套检验;任何门限退化须在发布报告中标红并阻断合并。

VIII. 交叉引用与依赖


IX. 风险、限制与开放问题


X. 交付件与版本管理


XI. 本章新增术语与符号(记忆)


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首次发布: 2025-11-11|当前版本:v5.1
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