目录文档-技术白皮书31-EFT.WP.BH.TensionWall v1.0

第12章 误差预算与系统误差防护


I. 一句话目标

一句话目标:建立围绕张度墙 Sigma_TW 的端到端误差模型与防护体系,从观测到达时 T_arr 到 n_eff = F( Phi_T, grad_Phi_T, … ) + H_TW 的全链路,给出 GUM 与 MC 两条不确定度传播、两口径专属误差、薄/厚壁切换误差、界面与能量一致误差、频带差分泄漏、定向项与多路径权重误差的防护与审计口径。


II. 范围与非目标


III. 术语与符号最小集


IV. 误差分类与源头分层


V. GUM 不确定度传播(常量外提口径)

离散表达:T_arr ≈ (1/c_ref) * ∑_{k=0}^{N-1} n_eff[k] · Δell[k]
一阶敏感度:

u_c^2(T_arr) ≈ (∂T/∂c_ref)^2 u^2(c_ref)

+ ∑ ( (Δell[k]/c_ref)^2 u^2(n_eff[k]) )

+ ∑ ( (n_eff[k]/c_ref)^2 u^2(Δell[k]) )

+ 2∑∑ ρ_ij (∂T/∂q_i)(∂T/∂q_j) u(q_i) u(q_j)

其中 q_i ∈ { c_ref, n_eff[*], Δell[*] },相关系数 ρ_ij 需在报告中给出估计口径。


VI. GUM 不确定度传播(一般口径)

离散表达:T_arr ≈ ∑ ( n_eff[k] / c_ref[k] ) · Δell[k]
一阶敏感度:


VII. MC 不确定度传播(非线性与夹持场景主口径)

  1. 采样流程
    • 生成 N 组样本 { c_ref^(s), n_eff^(s)[k], Δell^(s)[k] },保持共享项与路径项的相关结构;
    • 逐样本计算 T_arr^(s),得到分布、分位数与尾部指标;
    • 输出 median(T_arr) 与 mean ± k·std,用于与 GUM 对照。
  2. 适用场景:存在夹持 n_eff ∈ [1, n_max]、ΔT_sigma 离散触发、界面类型切换或权重 w_m 较强非线性时,以 MC 为主报告口径。

VIII. 两口径专属误差与一致性


IX. 薄/厚壁切换误差与修正

  1. 定义:τ_switch = | T_arr^{thick} − ( T_arr^{thin} + ΔT_sigma ) |。
  2. 切换判据:当 Δw / r_H ≤ eta_w 使用薄壁近似;邻域内执行双算并报告 τ_switch。
  3. 防护
    • 端点 { ell_i } 求解采用收敛阈值与对称区间细化;
    • 在 |dW/dr| 高区强制缩步,避免修正欠采样;
    • 若 τ_switch > tau_switch,固定厚壁链路并回溯 TWProfile 或端点公差。

X. 界面匹配与能量一致误差

  1. 类型判定:连续/势跃迁/通量跃迁的误分型将导致 n_eff^± 侧限偏差,进入 u_sys。
  2. 三元组误差:R_TW, T_trans, A_sigma 的估计误差影响多路径权重 w_m 与 T_arr_total。
  3. 防护
    • 对每个界面事件审计 R_TW + T_trans + A_sigma = 1 的余量;
    • 分段积分与零厚度修正两条链路一致性测试;
    • 侧限下界 n_eff^± ≥ 1 为硬约束,违背即否证。

XI. 频带差分与带外泄漏

  1. 差分式:同一路径
    • 常量外提:ΔT_arr(f1,f2) = (1/c_ref) ∫ [ n_path(f1) − n_path(f2) ] d ell
    • 一般口径:ΔT_arr(f1,f2) = ∫ [ ( n_path(f1) − n_path(f2) ) / c_ref ] d ell
  2. 泄漏与对齐:带外功率泄漏并入 u_sys;两频点必须复用同一 { gamma[k], Δell[k] } 与 ΔT_sigma 调用,避免数值差异污染差分。
  3. 防护:配置带外抑制阈值与频点对齐策略;记录泄漏比与残差归因。

XII. 路径离散、求积与插值误差


XIII. c_ref 标定与漂移守护


XIV. 规范/边界与坐标/单位一致性


XV. 夹持、饱和与非线性


XVI. 偏差检测、否证线与 guardband

  1. 偏差检测
    • 下界:T_arr_obs − L_path/c_ref < −k·u_c;
    • 口径:eta_T > 阈值;
    • 薄/厚壁:τ_switch > tau_switch;
    • 差分:ΔT_arr 非线性或斜率失配且非带外所致;
    • 能量:R_TW + T_trans + A_sigma ≠ 1;
    • 侧限:出现 n_eff^± < 1。
  2. 否证线:满足任一项且排除实现错误则记为否证样本并进入第11章审计;连续三次独立复现实验否证同一维度,触发第2章 P40-* 与第5章 TWProfile 的复审。
  3. guardband:GB = k_guard · u_c,边缘样本入复核队列。

XVII. 日志与审计(最小字段)


XVIII. 接口与实现绑定(I40- 安全核查)


XIX. 交叉引用


XX. 产出物


版权与许可(CC BY 4.0)

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首次发布: 2025-11-11|当前版本:v5.1
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