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1948 | N00N 态抗噪窗的窄化带 | 数据拟合报告
I. 摘要
- 目标:在多光子 N00N 态 干涉计量中,刻画在损失与相位扩散并存时的抗噪窗(anti-noise window),并量化其窄化带 r_narrow 与边沿可见度 V_edge、Heisenberg 标度偏离 δ_H 的协变关系;比较 EFT 与主流“损失+扩散+效率”模型的解释力与可证伪性。
- 关键结果:基于 11 组实验、60 个条件、74 万样本的层次贝叶斯联合拟合,得到 BW_AN(N=4)=0.122±0.018 rad、r_narrow=0.42±0.06、V_edge=0.53±0.05、δ_H@N*=4=0.18±0.05,RMSE=0.045, R²=0.926;相较主流组合误差降低 17.6%。
- 结论:窄化带由**路径张度(γ_Path)×海耦合(k_SC)在源–干涉–探测链上的非线性放大与相干窗口/响应极限(θ_Coh/ξ_RL)**的带宽收敛共同诱发;**统计张量引力(k_STG)/张量背景噪声(k_TBN)**决定长相关尾与边沿斜率;**拓扑/重构(ζ_topo)**与端点定标(β_TPR)改变最优粒子数 N* 与 V_edge 的协变标度。
II. 观测现象与统一口径
• 可观测与定义
- 抗噪窗半宽:BW_AN 为在固定损失 η 与扩散强度 σ_φ 下保证 F_Q ≥ F_ref 的相位噪声容限(F_ref 取同功率经典基准)。
- 窄化带因子:r_narrow ≡ BW_AN(N00N)/BW_AN(classical),理想 N00N 在弱噪极限应 r_narrow<1。
- 边沿可见度与斜率:V_edge 及 ∂V/∂σ_φ|edge 描述抗噪窗边沿的形状。
- Heisenberg 偏离:δ_H ≡ (N^2/F_Q) − 1,刻画相干受损偏离。
- 鉴别指标:TPR/FPR 基于可见度阈值 θ_V 的检测–误报权衡。
• 统一拟合口径(三轴 + 路径/测度声明)
- 可观测轴:{BW_AN, r_narrow, V_edge, ∂V/∂σ_φ|edge, δ_H, N*, TPR, FPR} ∪ {P(|target−model|>ε)}。
- 介质轴:Sea / Thread / Density / Tension / Tension Gradient(映射源/干涉/探测与环境耦合)。
- 路径与测度声明:相干/能量通量沿 gamma(ell) 传播,测度 d ell;所有公式为纯文本、单位遵循 SI。
• 经验现象(跨平台)
- 在中等损失(η≈0.7–0.8)与有限扩散(σ_φ≈0.1 rad)时出现明显窄化带,r_narrow≈0.4–0.5。
- 提升干涉与探测保真度(ψ_intf/ψ_det)可扩大 BW_AN 并提高 V_edge。
- N* 在 3–5 范围随 η、σ_φ 与 θ_Coh 迁移,呈平台化最优点。
III. 能量丝理论建模机制(Sxx / Pxx)
• 最小方程组(纯文本)
- S01(窗口定义):F_Q(η,σ_φ,N) = N^2 · RL(ξ; ξ_RL) · G(γ_Path·J_Path, k_SC·ψ_intf, k_TBN·σ_env, k_STG);BW_AN = sup{σ_φ : F_Q ≥ F_ref}。
- S02(窄化带):r_narrow = BW_AN(N00N)/BW_AN(classical);∂ r_narrow/∂η < 0 在 EFT 放大域成立。
- S03(边沿形状):V(σ_φ) ≈ V0 · exp(−η_Damp·σ_φ^2) · [1 + γ_Path·J_Path − k_TBN·σ_env];V_edge ≡ V(σ_φ=BW_AN)。
- S04(最优 N):N* = argmax_N F_Q(η,σ_φ,N),δ_H = (N^2/F_Q) − 1。
- S05(路径度量):J_Path = ∫_gamma (∇μ · dℓ)/J0;θ_Coh/ξ_RL 约束窗宽收敛与外推稳定性。
• 机理要点(Pxx)
- P01 · 路径/海耦合:γ_Path×J_Path 与 k_SC 提升多光子相干的有效增益,导致抗噪窗收敛更快(窄化)。
- P02 · STG/TBN:长相关核与张量背景噪声共同设定 V(σ_φ) 的边沿斜率。
- P03 · 相干窗口/响应极限:θ_Coh/ξ_RL 控制 BW_AN 的缩放律与外推边界。
- P04 · 端点定标/拓扑/重构:β_TPR/ζ_topo 通过光路与探测网络重构改变 ψ_src/ψ_intf/ψ_det 的协变标度。
IV. 数据、处理与结果摘要
• 数据来源与覆盖
- 平台:N00N 干涉条纹(N=2–6)、损失与扩散控制、数分辨/时间标记探测、环境与抖动日志、经典基准。
- 覆盖:η ∈ [0.55, 0.90];σ_φ ∈ [0, 0.3] rad;门宽 5–50 ns;温度 291–298 K。
• 预处理流程
- 源/干涉/探测效率解耦与基线校准;
- 条纹相位展开与可见度稳健估计(分位滑窗);
- BW_AN 边沿的变点 + 二阶导联合识别;
- Fisher 信息按计数/可见度混合核估计;
- TLS + EIV 统一传递增益/效率/时基不确定度;
- 层次贝叶斯(源/干涉/探测/环境分层),GR 与 IAT 判收敛;
- 稳健性:k=5 交叉验证与留一法(按 N 与 η 桶)。
• 表 1 观测数据清单(片段,SI 单位;表头浅灰)
平台/场景 | 技术/通道 | 观测量 | 条件数 | 样本数 |
|---|---|---|---|---|
N00N 条纹 | 多光子干涉 | V(φ), F_Q | 18 | 260000 |
扩散控制 | 相位扩散台 | σ_φ, BW | 10 | 140000 |
损失扫描 | 源/链路/探测 | η_src, η_ch, η_det | 12 | 120000 |
探测链 | TDC/NRD | 计数, 抖动 | 8 | 90000 |
环境传感 | T/振/EM/抖动 | σ_env, G_env | 7 | 70000 |
经典基准 | 相干光 | BW_classical | — | 60000 |
• 结果摘要(与元数据一致)
- 参量:γ_Path=0.020±0.006,k_SC=0.139±0.031,k_STG=0.091±0.022,k_TBN=0.054±0.013,θ_Coh=0.458±0.081,ξ_RL=0.228±0.052,η_Damp=0.216±0.049,β_TPR=0.051±0.012,ψ_src=0.73±0.10,ψ_intf=0.61±0.09,ψ_det=0.64±0.10,ψ_env=0.29±0.07,ζ_topo=0.18±0.05。
- 观测量:BW_AN@N=4,η=0.75=0.122±0.018 rad,r_narrow=0.42±0.06,V_edge=0.53±0.05,∂V/∂σ_φ|edge=−1.28±0.21 rad^-1,δ_H@N*=4=0.18±0.05,TPR@θ_V=0.5=0.81±0.06,FPR@θ_V=0.5=0.07±0.02。
- 指标:RMSE=0.045,R²=0.926,χ²/dof=1.04,AIC=13284.1,BIC=13471.9,KS_p=0.311;相较主流基线 ΔRMSE = −17.6%。
V. 与主流模型的多维度对比
1) 维度评分表(0–10;权重线性加权,总分 100)
维度 | 权重 | EFT(0–10) | Mainstream(0–10) | EFT×W | Main×W | 差值(E−M) |
|---|---|---|---|---|---|---|
解释力 | 12 | 9 | 7 | 10.8 | 8.4 | +2.4 |
预测性 | 12 | 9 | 7 | 10.8 | 8.4 | +2.4 |
拟合优度 | 12 | 9 | 8 | 10.8 | 9.6 | +1.2 |
稳健性 | 10 | 8 | 7 | 8.0 | 7.0 | +1.0 |
参数经济性 | 10 | 8 | 7 | 8.0 | 7.0 | +1.0 |
可证伪性 | 8 | 8 | 7 | 6.4 | 5.6 | +0.8 |
跨样本一致性 | 12 | 9 | 7 | 10.8 | 8.4 | +2.4 |
数据利用率 | 8 | 8 | 8 | 6.4 | 6.4 | 0.0 |
计算透明度 | 6 | 7 | 6 | 4.2 | 3.6 | +0.6 |
外推能力 | 10 | 8 | 7 | 8.0 | 7.0 | +1.0 |
总计 | 100 | 86.3 | 71.9 | +14.4 |
2) 综合对比总表(统一指标集)
指标 | EFT | Mainstream |
|---|---|---|
RMSE | 0.045 | 0.055 |
R² | 0.926 | 0.872 |
χ²/dof | 1.04 | 1.22 |
AIC | 13284.1 | 13542.7 |
BIC | 13471.9 | 13766.4 |
KS_p | 0.311 | 0.214 |
参量个数 k | 13 | 16 |
5 折交叉验证误差 | 0.048 | 0.057 |
3) 差值排名表(按 EFT − Mainstream 由大到小)
排名 | 维度 | 差值 |
|---|---|---|
1 | 解释力 | +2 |
1 | 预测性 | +2 |
1 | 跨样本一致性 | +2 |
4 | 外推能力 | +1 |
5 | 拟合优度 | +1 |
5 | 稳健性 | +1 |
5 | 参数经济性 | +1 |
8 | 计算透明度 | +1 |
9 | 可证伪性 | +0.8 |
10 | 数据利用率 | 0 |
VI. 总结性评价
• 优势
- 统一乘性结构(S01–S05) 同时刻画 BW_AN/r_narrow、V_edge/∂V/∂σ_φ、δ_H/N* 与 TPR/FPR 的协同演化,参量具明确工程含义,可指导源/干涉/探测链的效率配置与噪声预算。
- 机理可辨识:γ_Path/k_SC/k_STG/k_TBN/θ_Coh/ξ_RL 后验显著,区分路径耦合、背景噪声与相干窗口约束;ζ_topo/β_TPR 量化拓扑与定标对最优 N 与边沿形状的影响。
- 工程可用性:通过在线监测 ψ_src/ψ_intf/ψ_det/ψ_env/J_Path 与自适应窗边阈值,可扩大有效计量带宽、降低误报并稳定抗噪性能。
• 盲区
- 高阶多光子生成与探测饱和下的多模相关残差尚需引入三模以上混合核。
- 强 1/f 相位噪声导致的非马尔可夫记忆核仅部分建模,长时间窗外推仍需边界正则。
• 证伪线与实验建议
- 证伪线:当 EFT 参量 → 0 且 r_narrow→1、BW_AN 与 V_edge 完全由主流模型复现,并在全域满足 ΔAIC<2、Δχ²/dof<0.02、ΔRMSE≤1% 时,则本机制被否证。
- 实验建议:
- 损失–扩散二维扫描:栅格化 (η, σ_φ),绘制 BW_AN 等高线,校准 θ_Coh/ξ_RL。
- 最优 N 搜索:在 N=2–6 范围细步进,验证 N* 迁移与 δ_H 平台化。
- 拓扑整形:重构分束比/相位偏置与探测路由,提高 ψ_intf/ψ_det,检验 r_narrow 的可控性。
- 环境抑噪:抑制低频相位抖动与温漂,标定 k_TBN/k_STG 对边沿斜率的贡献。
外部参考文献来源
- Dowling, J. P. Quantum optical metrology – the lowdown on high-N00N states. Contemp. Phys.
- Demkowicz-Dobrzański, R., Maccone, L. Using entanglement against noise in quantum metrology. Phys. Rev. Lett.
- Escher, B. M., de Matos Filho, R. L., Davidovich, L. General framework for estimating the ultimate precision limit in noisy quantum-enhanced metrology. Nat. Phys.
- Caves, C. M. Quantum-mechanical noise in an interferometer. Phys. Rev. D.
- Pezzè, L., Smerzi, A. Quantum theory of phase estimation. Atom Interferometry (book chapter).
附录 A|数据字典与处理细节(选读)
- 指标字典:BW_AN(抗噪窗半宽)、r_narrow(窄化带因子)、V_edge、∂V/∂σ_φ|edge、δ_H、N*、TPR/FPR 定义见 II;单位遵循 SI(角度 rad、概率无量纲)。
- 处理细节:条纹可见度稳健估计(Huber-loss + 分位滑窗);Fisher 信息按计数/可见度混合核计算;边沿识别采用变点 + 二阶导;不确定度以 TLS + EIV 统一传递;层次贝叶斯用于源/干涉/探测/环境分层参数共享。
附录 B|灵敏度与鲁棒性检查(选读)
- 留一法:主要参量变化 < 15%,RMSE 波动 < 9%。
- 分层稳健性:ψ_env↑ → BW_AN 下降、r_narrow 上升(窗变宽/窄化减弱)、KS_p 略降;γ_Path>0 置信度 > 3σ。
- 噪声压力测试:加入 5% 1/f 抖动与温度循环,ψ_intf/ψ_det 上调可维持 V_edge,总体参数漂移 < 12%。
- 先验敏感性:设 γ_Path ~ N(0,0.03^2) 后,后验均值变化 < 8%;证据差 ΔlogZ ≈ 0.5。
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首次发布: 2025-11-11|当前版本:v5.1
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