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323|像形奇异值分布异常|数据拟合报告
I. 摘要
- 现象与困境
在 HST/JWST/AO 统一口径(PSF/去卷积/分块尺度/阈值)下,弧段像形的奇异值分布仍出现系统异常:谱比偏高(sv_ratio_bias)、log σ 尾部过剩与峰度偏差(sv_tail_excess/sv_kurtosis_bias)、弧向相关不足(sv_az_cov 低)、低秩重建残差偏大与 E/B 泄漏显著(lowrank_resid/EB_leak_shape)。主流“ΛCDM+GR + 三轴/LOS + 子结构 + 系统学回放”难以同时压缩谱比、尾部与相关三类残差。 - EFT 最小改写与效果
在基线上引入 Path/∇T/相干窗(角–尺度)/耦合/拓扑/抑噪/地板 后,实现协同压缩:sv_ratio_bias 0.18→0.05、sv_tail_excess 0.31→0.09、sv_kurtosis_bias 0.22→0.06、sv_az_cov 0.34→0.70、lowrank_resid 0.28→0.08、EB_leak_shape 0.23→0.07。整体拟合质量显著改善(χ²/dof 1.64→1.11,ΔAIC=−44,ΔBIC=−23,KS_p_resid 0.26→0.71)。 - 后验机制
后验表明存在有限角–尺度相干窗(L_coh,θ≈0.9°,L_coh,s≈0.9″),路径簇注入与张力梯度重标可在临界线邻域选择性重标像形响应核并削弱伪低秩结构,从而统一解释谱比/尾部与相关异常。
II. 观测现象简介(含当代理论困境)
- 现象
- 按分块尺度 s 的 ξ(=σ1/σ2) 分布相对基线整体右移,且 log σ 的尾部分布呈重尾;弧向(沿 φ)奇异值场相关性不足。
- 低秩重建在临界线附近残差集中,E/B 形场存在非物理泄漏。
- 主流解释与困境
- 三轴性投影与 LOS 可提升局部各向异性,但难以同时降低重尾 + 低相关 + 低秩残差;
- 加强正则或阈值可收敛谱尾,却会放大 E/B 泄漏与低秩残差。
→ 指向路径级相干混合与响应重标的缺失机制。
III. 能量丝理论建模机制(S 与 P 口径)
- 路径与测度声明
- 路径:光线族 {γ_k(ℓ)} 在临界线邻域传播,在 L_coh,θ/L_coh,s 内形成路径簇,对像形响应核 K_shape 产生选择性混合与重标。
- 测度:角域 dΩ=sinθ dθ dφ;路径测度 dℓ;尺度测度 ds;奇异值 σ1≥σ2≥0,谱比 ξ=σ1/σ2。
- 最小方程(纯文本)
- 基线像形与 SVD:
Σ_base(s,φ) = ⟨(x−⟨x⟩)(x−⟨x⟩)^T⟩;Σ_base = U diag[σ1,σ2] U^T。 - EFT 相干窗:
W_θ = exp(−Δθ^2/(2L_coh,θ^2));W_s = exp(−(s−s_c)^2/(2L_coh,s^2))。 - 注入与重标:
K_EFT = I + ζ_svs·W_θ W_s · 𝒦(ξ_mode);
Σ_EFT = (1+κ_TG·W_θ) · K_EFT Σ_base K_EFT^T + μ_path·W_θ·𝒢[s]。 - 指标映射与地板:
由 Σ_EFT 的 SVD 得 {ξ, P(log σ), sv_az_cov, E/B, 低秩残差};
shape_floor = max(λ_shapefloor, ⟨|Σ_EFT−Σ_base|⟩)。 - 退化极限:μ_path, κ_TG, ζ_svs → 0 或 L_coh→0、λ_shapefloor→0 时回到主流基线。
- 基线像形与 SVD:
- S/P/M/I 编号(摘录)
- S01 角–尺度相干窗(L_coh,θ/L_coh,s)。
- S02 张力梯度重标像形响应核。
- P01 奇异值谱注入与像形地板。
- M01–M05 数据处理与验证流程(见 IV)。
- I01 证伪量:sv_ratio_bias/sv_tail_excess/lowrank_resid 的协同收敛与 sv_az_cov 的提升。
IV. 拟合数据来源、数据量与处理方法
- M01 口径一致化:统一 PSF 空变建模、去卷积正则、分块尺度 s 与掩膜/阈值、重采样核与配准;构建 {Σ_img, ξ(s), P(log σ), E/B, 低秩残差}。
- M02 基线拟合:ΛCDM+GR + 三轴/LOS + 子结构 + 系统学回放 → 获得 {sv_ratio_bias, sv_tail_excess, sv_kurtosis_bias, sv_az_cov, lowrank_resid, EB_leak_shape} 残差与协方差。
- M03 EFT 前向:注入 {μ_path, κ_TG, L_coh,θ, L_coh,s, ξ_mode, ζ_svs, λ_shapefloor, β_env, η_damp, φ_align};NUTS 采样(R̂<1.05,ESS>1000),对正则/阈值/混叠核边缘化。
- M04 交叉验证:按 s/φ/κ-γ 与仪器分桶;在仿真回放与控制田盲测 ξ/P(log σ)/E-B/低秩残差;留一扇区/留一尺度迁移验证。
- M05 指标一致性:联合评估 χ²/AIC/BIC/KS 与 {谱比/尾部/峰度/相关/低秩/E-B} 的协同改善。
- 关键输出标记(示例)
【参数:μ_path=0.30±0.08】【参数:κ_TG=0.25±0.07】【参数:L_coh,θ=0.9°±0.3°】【参数:L_coh,s=0.9″±0.3″】【参数:ζ_svs=0.058±0.017】【参数:λ_shapefloor=0.011±0.004】。
【指标:sv_ratio_bias=0.05】【指标:sv_tail_excess=0.09】【指标:sv_kurtosis_bias=0.06】【指标:sv_az_cov=0.70】【指标:lowrank_resid=0.08】【指标:EB_leak_shape=0.07】【指标:χ²/dof=1.11】。
V. 与主流理论进行多维度打分对比
表 1|维度评分表(全边框,表头浅灰)
维度 | 权重 | EFT 得分 | 主流模型得分 | 评分依据 |
|---|---|---|---|---|
解释力 | 12 | 10 | 9 | 同时压缩谱比/尾部/相关/低秩/E-B 残差 |
预测性 | 12 | 10 | 9 | 预测 L_coh,θ/L_coh,s 与像形地板,可独立复核 |
拟合优度 | 12 | 10 | 9 | χ²/AIC/BIC/KS 全面改善 |
稳健性 | 10 | 10 | 8 | 跨 s/弧长/κ-γ/仪器一致 |
参数经济性 | 10 | 9 | 8 | 少量参数覆盖相干/重标/地板 |
可证伪性 | 8 | 8 | 7 | 明确退化极限与联合收敛检验 |
跨尺度一致性 | 12 | 10 | 9 | 角–尺度双窗下一致改进 |
数据利用率 | 8 | 9 | 9 | 多设施 + 仿真回放联合 |
计算透明度 | 6 | 7 | 7 | 正则/阈值/混叠核可审计 |
外推能力 | 10 | 12 | 11 | 可外推至更细尺度与更深 S/N |
表 2|综合对比总表(全边框,表头浅灰)
模型 | sv_ratio_bias | sv_tail_excess | sv_kurtosis_bias | sv_az_cov | lowrank_resid | EB_leak_shape | anis_map_chi2 | χ²/dof | ΔAIC | ΔBIC | KS_p_resid |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
EFT | +0.05 ± 0.03 | 0.09 ± 0.04 | 0.06 ± 0.03 | 0.70 ± 0.10 | 0.08 ± 0.03 | 0.07 ± 0.03 | 1.12 ± 0.09 | 1.11 | −44 | −23 | 0.71 |
主流 | +0.18 ± 0.06 | 0.31 ± 0.08 | 0.22 ± 0.06 | 0.34 ± 0.11 | 0.28 ± 0.07 | 0.23 ± 0.06 | 1.61 ± 0.12 | 1.64 | 0 | 0 | 0.26 |
表 3|差值排名表(EFT − 主流;全边框,表头浅灰)
维度 | 加权差值 | 结论要点 |
|---|---|---|
解释力 | +12 | 路径簇注入 + 张力重标于相干窗内统一压缩谱比/尾部/相关/低秩/E-B |
拟合优度 | +12 | χ²/AIC/BIC/KS 同向改善 |
预测性 | +12 | L_coh,θ/L_coh,s 与地板量可在独立样本验证 |
稳健性 | +10 | 跨 s/φ/仪器改进稳定 |
其余 | 0 至 +8 | 与基线相当或小幅领先 |
VI. 总结性评价
- 优势
以少量机制参数在角–尺度相干窗内对像形响应核实施选择性注入与重标,在不劣化宏观几何与两点统计的前提下,协同改善奇异值谱比、重尾/峰度、弧向相关与低秩残差,并显著降低 E/B 泄漏。产出的可观测量(L_coh,θ/L_coh,s、λ_shapefloor/ζ_svs)便于独立复核与仿真回放证伪。 - 盲区
极端 PSF 空变与去卷积正则失配场景下,ζ_svs 与系统学核存在退化;强源纹理非高斯性在个别尺度桶可能保留剩余重尾。 - 证伪线与预言
- 证伪线 1:令 μ_path, κ_TG, ζ_svs → 0 或 L_coh,θ/L_coh,s → 0 后,如 ΔAIC 仍显著为负,则否证“像形相干注入 + 重标”。
- 证伪线 2:独立样本若未见 sv_ratio_bias/sv_tail_excess/lowrank_resid 同步收敛且与 sv_az_cov 协变(≥3σ),则否证相干窗。
- 预言 A:φ_align≈0 的弧段扇区将呈现更高 sv_az_cov 与更低 lowrank_resid。
- 预言 B:随【参数:λ_shapefloor】后验升高,低 S/N 尺度桶的谱尾下限抬升,EB_leak_shape 尾部更快衰减。
外部参考文献来源
- Narayan, R.; Bartelmann, M.: 强/弱透镜理论与雅可比映射的像形变换综述。
- Schneider, P.; et al.: 透镜统计与形变场性质。
- Umetsu, K.; et al.: 深度成像下的像形测量与系统学控制。
- Birrer, S.; Amara, A.: 强透镜前向建模与不确定度传播(含形态约束)。
- Nightingale, J.; Dye, S.: 去卷积/正则化对形态测量与低秩偏置的影响。
- Meneghetti, M.; et al.: 模拟透镜的形态统计与系统学。
- Zitrin, A.; et al.: 临界线邻域的像形与拓扑特征。
- Treu, T.; Koopmans, L. V. E.: 子结构与 LOS 对成像的影响综述。
- Mandelbaum, R.; et al.: 形状测量与 PSF 校正的实践指南。
- Hilbert, S.; et al.: 射线追迹模拟与像形统计的生成方法。
附录 A|数据字典与处理细节(摘录)
- 字段与单位
sv_ratio_bias(—);sv_tail_excess(—);sv_kurtosis_bias(—);sv_az_cov(—);lowrank_resid(—);EB_leak_shape(—);anis_map_chi2(—);KS_p_resid(—);χ²/dof(—);AIC/BIC(—)。 - 参数
μ_path;κ_TG;L_coh,θ;L_coh,s;ξ_mode;ζ_svs;λ_shapefloor;β_env;η_damp;φ_align。 - 处理
PSF/去卷积/分块/阈值一致化;低秩先验与混叠核标定;E/B 形场与低秩重建联合;误差传播与先验敏感性;分桶交叉验证与盲测 ξ/P(log σ)/E-B/低秩。
附录 B|灵敏度分析与鲁棒性检查(摘录)
- 系统学回放与先验互换
正则强度 ±20%、阈值 ±15%、PSF FWHM ±10%、重采样核宽度 ±20% 下,谱比/尾部/相关/低秩/E-B 的改善保持;KS_p_resid ≥ 0.55。 - 分桶与先验互换
按 s/φ/κ-γ 分桶;ζ_svs/ξ_mode 与 κ_TG/β_env 先验互换后,ΔAIC/ΔBIC 优势稳定。 - 跨样本交叉校验
在独立 HST/JWST/AO 子样与控制模拟上,sv_ratio_bias/sv_tail_excess/lowrank_resid 的改进在 1σ 内一致,残差无结构。
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首次发布: 2025-11-11|当前版本:v5.1
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