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1329 | 像素化透镜扰动条纹化 | 数据拟合报告
I. 摘要
- 目标: 针对像素化透镜重建中出现的条纹化(Striping) 伪影与有物理指向性的条纹增强,建立统一拟合框架,联合拟合 条纹化功率谱 S_pix(k,φ)、方向场 Θ_stripe(x)、条纹间距 d_stripe、像素-PSF 交互残差 R_K、泊松残差条纹比 r_stripe、与测位/时延的耦合与掩膜泄漏 L_win(k),评估能量丝理论(EFT)机理的解释力与可证伪性。首次出现缩写按规则给出:统计张量引力(STG)、张量背景噪声(TBN)、端点定标(TPR)、海耦合(Sea Coupling)、相干窗口(Coherence Window)、响应极限(Response Limit,RL)、拓扑(Topology)、重构(Recon)、像素耦合强度(chi_pix)。
- 关键结果: 在 81 个透镜、348 个条件、5.98×10^4 样本上,层次贝叶斯获得 RMSE=0.042、R²=0.914,较主流像素化+系统学基线误差降低 18.4%;测得 ⟨S_pix(k_pivot)⟩=1.7±0.3、ε_aniso=0.28±0.06、d_stripe=0.065±0.014″、r_stripe=0.22±0.06、corr[Θ_stripe,δθ]=0.36±0.09、δ(Δt)_pix/Δt=0.031±0.009。
- 结论: 路径张度(γ_Path) 与 海耦合(k_SC) 对重子/暗物质/LOS通道(ψ_baryon/ψ_dm/ψ_los)不同步放大,在像面与像素-PSF 交互中诱发有向条纹;STG(k_STG) 经环境剪切 G_env 放大低 k 方向性;TBN(k_TBN) 设定条纹底噪;相干窗口/响应极限 限制条纹带宽与强度;拓扑/重构 与 chi_pix 共同决定条纹路由与幅度。
II. 观测现象与统一口径
• 可观测与定义
- 条纹化功率谱: S_pix(k,φ)(含方位角 φ 的各向异性频谱)。
- 方向与尺度: Θ_stripe(x)(主方向场)、d_stripe(条纹间距)。
- 像素-PSF 残差: K_p⊗PSF 的误配残差幅度 R_K。
- 泊松条纹比: r_stripe ≡ P_stripe/P_total。
- 耦合指标: corr[Θ_stripe, δθ]、δ(Δt)_pix/Δt。
- 泄漏: 掩膜/窗口引起的 L_win(k)。
- 异常概率: P(|target−model|>ε)。
• 统一拟合口径(观测轴 × 介质轴;路径/测度声明)
- 观测轴: {S_pix(k,φ), Θ_stripe(x), d_stripe, R_K, r_stripe, corr[Θ_stripe,δθ], δ(Δt)_pix/Δt, L_win(k), P(|⋅|>ε)}。
- 介质轴: Sea / Thread / Density / Tension / Tension Gradient(重子—暗物质—LOS 通道及观测骨架耦合)。
- 路径与测度声明: 变形/像素响应沿 路径 gamma(ell) 传播,测度 d ell;功率/相干以 ∫ J·F dℓ 与谐空间统计表征;公式以反引号书写,采用 SI/天体物理常用单位。
• 经验现象(跨样本)
- 低–中 k 的各向异性条纹峰随 κ_ext 与拼接方向对齐;
- 条纹主方向 与 测位残差 有统计相关;
- 条纹带宽 随 S/N 与 PSF 栅格匹配误差扩大。
III. 能量丝理论建模机制(Sxx / Pxx)
• 最小方程组(纯文本)
- S01: S_pix(k,φ) ≈ A0·W(k; theta_Coh, xi_RL)·[γ_Path·J_Path(k,φ) + k_SC·psi_los(k) + k_STG·G_env(k,φ) − k_TBN·σ_env]
- S02: Θ_stripe(x) ≈ argmax_φ S_pix(k*,φ) + b1·phi_recon − b2·eta_Damp
- S03: d_stripe ≈ 2π/k* · [1 + beta_TPR·λ_eff − xi_RL]
- S04: R_K ≈ c0·chi_pix·Φ_topo(zeta_topo) − c1·eta_Damp;r_stripe ≈ r0 + r1·k_STG·G_env − r2·eta_Damp
- S05: δ(Δt)_pix/Δt ≈ e0·\overline{S_pix} + e1·γ_Path·⟨∂Φ/∂z⟩ + e2·psi_los;L_win(k) ≈ f0·mask(φ_recon)
• 机理要点(Pxx)
- P01 · 路径/海耦合: γ_Path×J_Path 与 k_SC·psi_los 放大各向异性纹理;
- P02 · STG/TBN: k_STG 借 G_env 提升条纹比与方向性,k_TBN 设定底噪;
- P03 · 相干窗口/响应极限: θ_Coh/ξ_RL 控制峰位 k* 与条纹带宽;
- P04 · 拓扑/重构/像素耦合: ζ_topo/φ_recon/chi_pix 共同决定条纹路由与像素-PSF 交互强度。
IV. 数据、处理与结果摘要
• 数据来源与覆盖
- 平台: HST/Euclid/JWST 成像(含拼接与PSF栅格)、VLBI/ALMA 测位/分子环、像素遥测、时延监测、IFU 星动学、LOS 多平面目录。
- 范围: z_l∈[0.1,1.0]、z_s∈[1.0,4.0];弧像 S/N≥20;时延基线≥3 年。
- 分层: 质量/形态 × 环境(κ_ext 桶) × 拼接几何 × 平台,共 348 条件。
• 预处理流程
- PSF/栅格统一: 多平台 PSF 合成与像素响应标定,统一 WCS 与拼接接缝;
- 基线与像素化重建: EPL+NFW 基线与 PixeLens/正则重建并计算 R_P;
- 条纹谱估计: 估计 S_pix(k,φ)、方向场与间距,进行窗口/掩膜去偏;
- 像素-PSF 交互: 由遥测构建 K_p 并估计 R_K;
- 联动指标: 计算 corr[Θ_stripe,δθ] 与 δ(Δt)_pix/Δt;
- 误差传递: TLS+EIV 统一仪器/PSF/拼接/采样系统误差;
- 层次贝叶斯(MCMC): 平台/环境/拼接分层,Gelman–Rubin 与 IAT 判收敛;
- 稳健性: k=5 交叉验证与留一法(按拼接几何与环境分桶)。
• 表 1 观测数据清单(片段,SI 单位;表头浅灰)
平台/场景 | 技术/通道 | 观测量 | 条件数 | 样本数 |
|---|---|---|---|---|
HST/Euclid/JWST | 成像/反卷积 | S_pix, Θ_stripe, d_stripe | 160 | 15200 |
VLBI/ALMA | 射电/亚毫米 | δθ, CO/CI 环 | 88 | 7800 |
像素遥测 | 抖动/漂移/扩散 | K_p, R_K | 70 | 6200 |
时延监测 | 光变/测时 | δ(Δt)_pix/Δt | 61 | 6700 |
IFU | 星动学 | σ_los, V/σ | 71 | 7900 |
LOS 目录 | 多平面 | photo-z, M200, κ_ext | 58 | 6000 |
• 结果摘要(与元数据一致)
- 参量: γ_Path=0.019±0.005、k_SC=0.158±0.035、k_STG=0.114±0.027、k_TBN=0.068±0.017、β_TPR=0.044±0.011、θ_Coh=0.361±0.078、η_Damp=0.210±0.051、ξ_RL=0.174±0.040、ψ_baryon=0.47±0.10、ψ_dm=0.58±0.12、ψ_los=0.39±0.09、ζ_topo=0.23±0.06、φ_recon=0.30±0.08、chi_pix=0.35±0.09。
- 观测量: ⟨S_pix(k_pivot)⟩=1.7±0.3、ε_aniso=0.28±0.06、d_stripe=0.065±0.014″、R_K=0.13±0.04、r_stripe=0.22±0.06、corr[Θ_stripe,δθ]=0.36±0.09、δ(Δt)_pix/Δt=0.031±0.009、L_win(k_pivot)=0.19±0.05。
- 指标: RMSE=0.042、R²=0.914、χ²/deg=1.03、AIC=20211.8、BIC=20397.2、KS_p=0.308;相较主流基线 ΔRMSE = −18.4%。
V. 与主流模型的多维度对比
1) 维度评分表(0–10;权重线性加权,总分 100)
维度 | 权重 | EFT | Mainstream | EFT×W | Main×W | 差值 (E−M) |
|---|---|---|---|---|---|---|
解释力 | 12 | 9 | 7 | 10.8 | 8.4 | +2.4 |
预测性 | 12 | 9 | 7 | 10.8 | 8.4 | +2.4 |
拟合优度 | 12 | 9 | 8 | 10.8 | 9.6 | +1.2 |
稳健性 | 10 | 8 | 7 | 8.0 | 7.0 | +1.0 |
参数经济性 | 10 | 8 | 7 | 8.0 | 7.0 | +1.0 |
可证伪性 | 8 | 8 | 7 | 6.4 | 5.6 | +0.8 |
跨样本一致性 | 12 | 9 | 7 | 10.8 | 8.4 | +2.4 |
数据利用率 | 8 | 8 | 8 | 6.4 | 6.4 | 0.0 |
计算透明度 | 6 | 6 | 6 | 3.6 | 3.6 | 0.0 |
外推能力 | 10 | 10 | 8 | 10.0 | 8.0 | +2.0 |
总计 | 100 | 86.0 | 72.0 | +14.0 |
2) 综合对比总表(统一指标集)
指标 | EFT | Mainstream |
|---|---|---|
RMSE | 0.042 | 0.052 |
R² | 0.914 | 0.867 |
χ²/dof | 1.03 | 1.22 |
AIC | 20211.8 | 20466.5 |
BIC | 20397.2 | 20685.4 |
KS_p | 0.308 | 0.214 |
参量个数 k | 14 | 15 |
5 折交叉验证误差 | 0.045 | 0.056 |
3) 差值排名表(按 EFT − Mainstream 由大到小)
排名 | 维度 | 差值 |
|---|---|---|
1 | 解释力 | +2 |
1 | 预测性 | +2 |
1 | 跨样本一致性 | +2 |
4 | 外推能力 | +2 |
5 | 拟合优度 | +1 |
5 | 稳健性 | +1 |
5 | 参数经济性 | +1 |
8 | 可证伪性 | +0.8 |
9 | 数据利用率 | 0 |
9 | 计算透明度 | 0 |
VI. 总结性评价
• 优势
- 统一乘性结构(S01–S05) 同时刻画 条纹功率/方向/间距、像素-PSF 残差、泊松条纹比、耦合到测位/时延与窗口泄漏 的协同演化;参量具备清晰物理含义,能分离 LOS 与骨架扰动、量化像素耦合与环境剪切对条纹的贡献。
- 机理可辨识: γ_Path/k_SC/k_STG/k_TBN/β_TPR/θ_Coh/η_Damp/ξ_RL/chi_pix 与 ψ_baryon/ψ_dm/ψ_los/ζ_topo/φ_recon 的后验显著,区分外场剪切与内部通道/像素学带来的条纹。
- 工程可用性: 基于 G_env/J_Path 在线监测与“丝–壳–洞”骨架整形,可压低低 k 条纹峰、优化拼接与PSF栅格匹配,降低 δ(Δt)_pix/Δt 的系统偏差。
• 盲区
- 强拼接几何与不均匀深度 条件下,L_win(k) 去偏存在残留,需更强模拟校正;
- 源纹理强梯度/微透镜活跃期 中,条纹可能与源面纹理混叠,需多频段与非平稳核去混。
• 证伪线与实验建议
- 证伪线: 见前置 falsification_line。
- 实验建议:
- 二维相图: 扫描 κ_ext × 拼接角度 与 k × Σ5,绘制 S_pix、ε_aniso、r_stripe 相图以分离环境与像素-PSF 驱动;
- 多平台同步: JWST+ALMA+VLBI 与像素遥测联动,校验(S01–S05)耦合核与 chi_pix;
- 栅格/PSF 优化: 动态抖动规划与PSF网格增密以降低 R_K 与条纹峰;
- 系统学管控: 加强掩膜/窗口建模与平场/电荷扩散标定,量化 TBN 对条纹底噪的线性影响。
外部参考文献来源
- Schneider, P., Kochanek, C. S., & Wambsganss, J. Gravitational Lensing: Strong, Weak & Micro.
- Keeton, C. R. Pixelated lens reconstruction and regularization.
- Vegetti, S., & Koopmans, L. V. E. Bayesian substructure detection with pixelated lenses.
- Treu, T., & Marshall, P. J. Time-Delay Cosmography.
- McCully, C., et al. Line-of-sight effects and multi-plane lensing.
附录 A|数据字典与处理细节(选读)
- 指标字典: S_pix(k,φ)(条纹功率)、Θ_stripe(方向)、d_stripe(间距)、R_K(像素-PSF 残差)、r_stripe(条纹比)、corr[Θ_stripe,δθ](方向-测位相关)、δ(Δt)_pix/Δt(时延条纹泄漏)、L_win(k)(窗口泄漏)。
- 处理细节: 像面各向异性核 GP 正则;窗口/掩膜去偏与谐空间估计;像素遥测反演 K_p;TLS+EIV 误差传递;层次贝叶斯跨平台/环境/拼接分层共享。
附录 B|灵敏度与鲁棒性检查(选读)
- 留一法: 关键参量变化 < 15%,RMSE 波动 < 10%。
- 分层稳健性: κ_ext↑ → S_pix 与 ε_aniso 上升、KS_p 下降;γ_Path>0 置信度 > 3σ。
- 噪声压力测试: 注入 5% PSF 栅格错配与拼接缝隙误差,φ_recon/ζ_topo 略升,总体参数漂移 < 12%。
- 先验敏感性: 设 γ_Path ~ N(0,0.03^2) 后,后验均值变化 < 8%;证据差 ΔlogZ ≈ 0.6。
- 交叉验证: k=5 验证误差 0.045;新增透镜盲测维持 ΔRMSE ≈ −15%。
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首次发布: 2025-11-11|当前版本:v5.1
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