一、前言
近视界辐射区并非必然是单一连续壳层。即使不引入任何“新天体”,只要存在可持续的能流组织与边界约束,辐射与不透明度也可能在半径方向上形成层化:一条或多条窄的“断层带”(梯度集中区),以及在方位角上呈现可重复的“孔隙通道”(更易泄放或更易透射的窗口)。若该层化是真实的几何—通道结构,它不应依赖某一种成像算法偶然显影,而应在闭合量、跨频段与跨历元的统计上留下稳定指纹;并且它应与近环的偏振翻转与时间域共同时延形成同窗协同(见第7章)。
二、预测(核心一句话)
在具备近环分辨与偏振信噪的黑洞近视界源中,近视界辐射区存在“断层—孔隙”的动态层化:
- 径向上出现一条或多条可分辨的梯度集中带,使环宽与径向亮度剖面呈“平台—陡坎—平台”的层化形态。
- 方位上出现可重复的孔隙通道,使环上存在稳定的“低不透明/高透射窗口”或“高泄放窗口”,其方位在归一化坐标中呈锁相或弱漂移。
- 层化表现为“呼吸”:在固定半径比的前提下,环宽与断层强度在若干离散状态间切换或作准周期扩缩,其时间尺度按 t_g = GM/c³ 比例缩放。
- 层化与近环双指纹同窗同位:孔隙增强的方位与第7章的“共同时延峰+极化翻转带”同位出现的概率显著高于随机。
若环宽与径向剖面长期无法给出可复验的层化边界,孔隙方位无稳定锁相,或所谓结构随成像口径任意翻向,则否证该预测。
三、一句话目标
把“近视界层化”从图像直觉变成可仲裁的量化对象:用径向层化边界、方位孔隙锁相、呼吸离散与跨方法稳健性四联判据,给出支持或否证线。
四、要测什么
- 径向亮度剖面与环宽:在统一定义的环中心与归一化半径坐标下,测量径向亮度剖面 I(ρ) 与环宽 W(例如半高全宽或等效宽度指标),并记录剖面是否出现“平台—陡坎—平台”的层化形态。
- 断层参数:在冻结提取规则下,定义断层中心半径 ρ_s、断层宽度 w_s 与断层强度 A_s(例如剖面一阶导数峰值或曲率峰值),并给出不确定度与跨方法一致性。
- 孔隙通道方位:在环上定义方位亮度或不透明度代理量 B(φ)(可用强度、偏振强度或等效透射指标),定位“孔隙中心方位” φ_p 与孔隙带宽 Δφ_p,并统计其在历元间的锁相程度(锁相/弱漂移/无序)。
- 呼吸与离散态:对 W(t)、ρ_s(t)、A_s(t) 做时间序列,检验是否存在两态或多态的离散簇(平台态)以及态间跳变窗;并测量呼吸频率或跳变复现周期 f_b。
- 跨频一致性:在两频或多频观测中(以相同分辨率与同位校正口径),检验 ρ_s/环半径 与孔隙方位 φ_p 是否在归一化坐标下保持一致,不随频段按色散或散射规律系统漂移。
- 与第7章同窗同位:在同一历元内,比较孔隙方位 φ_p 与第7章的 φ_delay、φ_flip 的同位距离 Δφ,并统计同位率与置换对照差异。
五、怎么做
- 双路径读出:同时使用两条互补路径提取层化对象:
- 闭合量路径:优先用闭合相位、闭合振幅与偏振闭合量直接约束径向剖面与方位结构,减少成像先验影响。
- 成像路径:并行采用至少两类成像/反演方法输出环图,并将层化参数从图像中按冻结规则提取。
- 同位与分辨率统一:冻结环中心定义、束斑统一方式与径向归一化方式;不同频段先统一到共同分辨率后再比较层化参数,禁止以不同分辨率直接对比“层化强弱”。
- 层化提取口径冻结:断层识别阈值、剖面平滑核尺度、孔隙识别阈值与孔隙带宽上限在采数前冻结;不得根据某一历元结果回调阈值以“制造断层”。
- 盲化与留出:将历元标签与频段标签编码盲化;先完成断层与孔隙参数提取,再揭盲检验锁相、呼吸与跨频一致性;留出部分历元作为最终仲裁集。
- 跨源缩放检验:对不同源比较呼吸时间尺度与 t_g 的比例、层化半径比与环半径的比例,检验是否满足“按特征时间尺与角尺度缩放”的同族规律。
六、对照与空检
- 成像先验置换对照:改变合理先验(平滑、稀疏、环形偏好)与正则强度,若层化边界与孔隙方位随先验任意漂移或翻向,则不计为支持。
- 噪声注入与基线留出:对子阵列/基线留出重建并对数据注入受控噪声,若断层与孔隙只在完整数据与特定基线集出现,则优先判为采样伪像。
- 频段置换空检:随机置换频段标签或在同频内置换子带,跨频一致性应显著崩塌;若置换后仍“同样一致”,提示分析伪相关。
- 方位置换空检:随机旋转环方位坐标或置换方位扇区标签,孔隙锁相与同位率应退回随机。
- 散射与介质对照:对强散射视线,以去散射与不去散射两口径并行;若层化与孔隙主要由散射核模型决定,去散射口径改变会导致结构大幅漂移,应将该源降权或单列。
七、支持(通过)判据
同时满足以下三条,才算“通过”:
- 层化可复验:在闭合量路径与成像路径中均可稳定提取断层参数(ρ_s、w_s、A_s),并出现“平台—陡坎—平台”的层化剖面;结论对合理先验扰动与基线留出稳健。
- 孔隙锁相与呼吸离散成立:孔隙方位 φ_p 在归一化坐标中呈锁相或弱漂移,并且 W(t)、A_s(t) 等出现离散态簇或准周期呼吸,且时间尺度与 t_g 的比例在跨源比较中同阶。
- 跨频一致与同窗同位成立:ρ_s/环半径与 φ_p 在多频对齐后保持一致,不呈色散式漂移;孔隙增强方位与第7章的 φ_delay、φ_flip 同位率显著高于方位置换对照,并在留出历元复验通过。
八、否证(未通过)判据
出现以下任一类稳健结果即可否证:
- 径向剖面无法形成可复验层化边界,断层参数对成像先验与阈值高度敏感,换口径即漂移或消失。
- 孔隙方位在历元间近似均匀分布或随机游走,锁相程度不高于方位置换空检;所谓孔隙仅是少数历元的偶发噪声斑点。
- 环宽变化可完全由分辨率变化、散射核建模或校准漂移解释,且不存在离散态或可复验呼吸窗。
- 跨频一致性失败:ρ_s/环半径与 φ_p 随频段系统漂移或翻向;与第7章双指纹的同位率不高于随机。
九、系统误差与对策(限三点)
- 稀疏 uv 覆盖与重建退化:用闭合量路径为主、成像路径为辅;执行子阵列/基线留出与噪声注入稳健性检验,要求层化参数在误差带内收敛。
- 散射与去散射模型依赖:对强散射源并行输出去散射与不去散射两口径,并将结构漂移上限显式传播;对漂移超限者不进入主结论。
- 核心定位与同位对齐误差:冻结环中心与归一化坐标定义;对多频统一分辨率与核位移/中心漂移进行同位校正,超限历元留出或降权。
十、成败线(一句话版)
若近视界辐射区在闭合量与成像两条路径中均呈现可复验的断层层化与孔隙锁相,并表现出离散态呼吸且跨频一致、与第7章双指纹同窗同位、空检可分,则支持本章预测;若层化与孔隙无法跨口径复验或主要由散射/校准/成像先验驱动、同位率不高于随机,则否证该预测。
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