第56章：质子近场 OAM 手性散射的一致性测试（相位偏移与“外向纹理手性”同向）

目录 ／ 附录-1. 预测和证伪（V6.0）

一、前言
第51–55章建立了宇宙尺度的环境—路径—统计牵引—噪声回填的可检闭环；本章进入粒子层面的“材质指纹”。在 6.0 的粒子图像中，电荷极性不是外加标签，而是近场取向纹理的径向指向偏置：质子的近场呈“外向纹理”。因此，携带手性（OAM 号）的探针在质子近场的相位响应应表现为可读的手性相位差。本章以最可证伪的形式落地：检验“手性切换→相位偏移符号同步切换”的可逆一致性，并要求与电子对照呈系统镜像。

二、预测（核心一句话）
在固定几何与读出条件下，用携带轨道角动量（OAM）的探针束测量质子近场时，散射（或透过）相位偏移的符号应与“外向纹理手性”一致；当探针 OAM 手性翻转（+ℓ ↔ −ℓ）时，相位偏移符号应同步翻转且可逆。以电子为对照时，手性响应应呈系统镜像/互补（在同等几何与读出条件下，质子与电子的手性响应方向相反或呈镜像关系），并且该结论在预设线性窗口内可重复复现。

三、一句话目标
以一步判据检验“正电＝外向纹理”的近场材质主张：OAM 手性翻转引发质子近场相位偏移的可逆符号翻转，并与电子对照保持符号镜像。

四、要测什么

• 相位偏移 Δφ(ℓ)：在固定束腰、最近接距离（或等效作用参数）、入射能量/频率与极化态下，测量散射通道（或透过通道）的相位偏移，记录符号与幅度。
• 手性翻转响应 Sφ：检验 sign[Δφ(+ℓ)] 与 sign[Δφ(−ℓ)] 是否稳定相反，并统计翻转成功率与批次间稳定性。
• 线性窗口与边界：在预注册的束强/最近接距离/能量窗内，Δφ 对 |ℓ| 或对近场耦合强度呈可标定的线性或准线性响应；超出窗口时的饱和/退相干仅作自检。
• 电子镜像对照：在同一装置与同一分析口径下测量电子（或等效负电目标），检验 sign[Δφ_proton(ℓ)] 与 sign[Δφ_electron(ℓ)] 是否呈稳定镜像/互补关系。

五、怎么做

• 装置与目标态固定：采用可实现单粒子稳定环境的装置（单粒子阱或等效方案），保证目标态可重复；实验会话中目标态切换规则预注册并冻结。
• OAM 模式固定与校准：OAM 模式源支持 +ℓ/−ℓ 快速切换；模式纯度在线监测；剔除/降权阈值预注册并冻结。
• 几何锁定：束腰、对准误差容限、最近接距离（或等效作用参数）、入射能量/频率窗与极化态在采数前冻结；所有可调旋钮与容差写入预测卡。
• 相位读出与符号链路固定：采用相位敏感读出（干涉/外差或等效方案），并在全流程固定相位符号定义；参考臂/参考相位重定义作为独立口径并行运行，不得事后改写。
• 盲化：数据记录隐藏 OAM 手性标签（+ℓ/−ℓ）或以随机编码替代；分析在未知手性标签条件下完成相位提取与质量控制；揭盲后仅执行预注册的符号翻转检验。
• 对照与空检固定：同装置同口径下交替运行质子与电子对照；并行运行空阱/无目标、远离近场（弱耦合）、ℓ=0 基模三类空检。

六、阳性/阴性对照

1. 阳性对照：在可控手性散射体/相位元件上跑通全流程，验证“手性翻转→符号翻转”可被正确读出。
2. 阴性对照：
   • ℓ=0 基模不产生系统性手性相位差（仅保留非手性背景）；
   • 随机置换 +ℓ/−ℓ 标签将翻转成功率打回随机；
   • 远离近场（弱耦合）显著衰减或消失手性翻转信号。
3. 符号稳健性空检：交换参考定义或对装置坐标系做预注册的可逆变换后，符号结论不得漂移。

七、支持（通过）判据
同时满足以下三条，才算“通过”：

• 可逆符号翻转成立：在预设线性窗口内，Δφ(+ℓ) 与 Δφ(−ℓ) 的符号稳定相反，且重复切换不漂移、不退化。
• 幅度稳定且可标定：在固定几何与能量窗内，Δφ 幅度在统计误差带内稳定；在预注册的少量扫描档位（|ℓ| 或近场强度）下，响应曲线可标定且跨批次复现。
• 电子对照镜像/互补且空检排除：电子对照的手性响应与质子呈稳定镜像/互补关系；空阱、弱耦合与 ℓ=0 基模不产生同等显著的“手性翻转信号”。

八、否证（未通过）判据
出现以下任一类稳健结果即可否证：

• 不随手性翻转：Δφ 对 +ℓ/−ℓ 不呈符号翻转，或翻转成功率接近随机。
• 符号链路不稳健：符号结论随参考定义、对准微扰、模式纯度小扰动而随意翻转，无法建立可仲裁的稳定符号规则。
• 对照不镜像：质子与电子对照在同口径下长期同号或无系统关系。
• 空检同样显著：空阱/弱耦合/ℓ=0 基模出现同等显著的“手性相位差”，表明信号来自仪器手性或传播链路偏置。

九、系统误差与对策

• OAM 模式纯度与混叠：模式泄漏制造伪相位差；模式分解校准＋在线监测；模式纯度作为剔除/降权条件预注册。
• 对准与最近接距离漂移：微漂移造成相位假差；几何锁定＋快切换 +ℓ/−ℓ 抵消慢漂；漂移记录作为协变量剥离。
• 杂散电磁与参考相位漂移：伪造“符号翻转”；双参考通道或并行参考定义；空检与 ℓ=0 基模持续标定；关键结论跨日复现。

十、成败线（一句话版）
若在预设线性窗口内，质子近场对 OAM 手性的相位偏移呈“手性切换→符号同步翻转”的可逆稳定规律，并与电子对照呈镜像/互补且空检可排除，则支持本章预测；若翻转不存在、不可复现或被空检同等支持，则否证本章预测。