第74章：规则层“门槛离散＋链式改写”的统计指纹（衰变链与阈值态的跨平台联动）

目录 ／ 附录-1. 预测和证伪（V6.0）

一、前言
第63–68章把无色散公共项从事件读出推进到传播标度；第69–73章把“松紧底图—红移分解—尺钟同源—跨探针统一表”压成总纲门槛。本章转入“规则层”：若张度松紧不仅改写传播与牵引的外观，也会在微观过渡过程中改写“允许/抑制”的细则，则衰变、跃迁与阈值态的统计规律不应只呈连续漂移，而应呈现可复验的“门槛离散”与“链式改写”指纹。

二、预测（核心一句话）
在对外部控制量 P（强场强度、梯度幅度、等效张度指数 J 等）做扫描时，过渡/衰变的速率 λ 与分支比 bᵢ 将呈现“门槛离散＋链式改写”的联合特征：

• 门槛离散：定义速率残差 δλ(P) = ln[λ(P)/λstd(P)]，则 δλ(P) 在 P 轴上呈分段平台，主要变化集中为有限个台阶跃迁，发生在 P₁、P₂、…、Pₖ（门槛集）附近；平台内的斜率接近零，台阶处出现短窗突变。
• 链式改写：在同一门槛 Pₖ 处，多个分支比 bᵢ 同步改写，且满足“守恒补偿”：Σ bᵢ = 1 始终成立，同时 bᵢ 的变化呈成对补偿结构（存在 i≠j 使 Δbᵢ·Δbⱼ < 0）。
• 跨链联动：对衰变链 A→B→C→…，在同一 P 扫描下，A→B 的台阶出现时，B→C（或后续环节）在同一门槛或可标定的相位滞后窗内出现同族台阶；门槛集在用统一张度指数 J 表达后趋于对齐，不允许“每一环节各自随意漂移门槛”才能拟合。
  若 δλ(P) 在高精度下仅呈连续平滑漂移且无稳定门槛集，或 bᵢ 的变化不呈同步补偿而为随机独立漂移，则否证本章预测。

三、一句话目标
以“分段平台＋同步补偿改写＋衰变链同门槛联动”为判据，检验规则层是否存在可仲裁的门槛离散结构。

四、要测什么

1. 速率与寿命主量：
   • 过渡/衰变速率 λ(P) 或寿命 τ(P)（τ=1/λ），并给出统计不确定度与系统不确定度；
   • 基准模型 λstd(P)（包含已知场效应、已知环境效应与仪器校正，口径冻结）。
2. 分支比主量：
   • bᵢ(P)（至少两条分支并行），并保证 Σ bᵢ=1 的归一化口径冻结；
   • 分支补偿指标 Bcomp：在门槛窗内计算 Δbᵢ 的协方差矩阵，检验是否存在稳定的负相关主模态。
3. 门槛集与稀疏性指标：
   • 门槛位置 Pₖ（或 Jₖ）与其置信区间；
   • 稀疏性指标 Ssp：δλ(P) 的主要变化是否集中在有限个门槛窗内（例如门槛窗内的总变差占比）。
4. 链式联动指标：
   • 对链上相邻两环节的门槛一致性：Pₖ(A→B) 与 Pₖ(B→C) 的对齐程度；
   • 滞后窗指标 Δtchain：若存在可标定滞后，则滞后在跨批次中是否收敛。
5. 跨平台对齐指标：
   将不同装置的控制量 P 映射为统一张度指数 J（由第71–73章指标表或等效独立标定给出）后，门槛集 Jₖ 是否在不同平台间收敛。

五、怎么做

1. 门槛扫描设计：
   • 采用多档位扫描（至少 6–10 个档位），并包含上扫与下扫两条序列；
   • 档位顺序随机化并交错插入基线档位（P≈0 或 J≈0），抑制慢漂。
2. 多通道并行读出：
   同步测量 λ/τ 与至少两条分支 bᵢ，保证在同一事件窗、同一统计口径下给出 bᵢ 的同步改写判断。
3. 衰变链并行：
   选择可观测的链上至少两环节（A→B 与 B→C），在同一扫描序列下并行测量，避免跨实验日引入不可控漂移。
4. 盲化：
   P 档位标签与扫描方向标签随机编码；门槛定位、平台拟合、分支补偿矩阵计算在未知标签条件下完成；解盲后仅执行预注册的门槛一致性与链式联动检验。
5. 预注册模型族：
   固定“平台＋台阶”的主模型族与备选模型族（连续多项式/光滑样条作为对照），并冻结门槛窗宽度与判定阈值。

六、对照与空检

• 连续模型对照：用连续光滑模型拟合 δλ(P)，若其拟合优度与“平台＋台阶”模型无差别且门槛不可复验，则判为不支持门槛离散。
• 档位置换对照：随机置换 P 标签后，门槛集与分支补偿结构必须被打碎。
• 上扫/下扫一致性对照：若门槛为规则层结构，上扫与下扫的门槛位置应一致或仅呈可标定小滞后；若出现大滞回且不可复验，则优先判为热史/应力史系统项。
• 链断开对照：用与链无关的对照样本（或截断链）运行相同扫描口径，链式联动指标不得同样显著。
• 系统项注入对照：人工注入已知的计数效率漂移或背景漂移，检验其是否会伪造“同步分支补偿”；若会，则该系统项必须被纳入上限约束。

七、支持（通过）判据
同时满足以下三条，才算“通过”：

• 门槛离散成立：δλ(P) 在多个独立批次中呈分段平台，门槛集 Pₖ（或 Jₖ）可复验且稀疏性 Ssp 显著高于置换对照。
• 链式改写成立：在门槛窗内，多个 bᵢ 同步变化并呈稳定补偿主模态（Bcomp 显著），且 Σ bᵢ=1 的守恒口径下不出现“独立漂移伪改写”。
• 跨链联动成立：A→B 与 B→C 的门槛集在同一 P 或统一 J 表达下对齐（允许可标定滞后窗），并在上扫/下扫与跨平台复核中保持一致。

八、否证（未通过）判据
出现以下任一类稳健结果即可否证：

• 无门槛集：δλ(P) 在高精度下仅呈连续平滑变化，平台与台阶模型不优于连续模型，或门槛位置跨批次不可复验。
• 无同步补偿：bᵢ 的变化在门槛窗内不呈同步补偿结构，或协方差矩阵主模态随批次随机漂移。
• 无链式联动：衰变链各环节的门槛位置互不对齐，且无法用统一 J 映射收敛；所谓联动主要由单一对象或单一批次驱动。
• 空检同样显著：档位置换、链断开对照或系统项注入对照仍能复制同等级门槛与补偿结构。

九、系统误差与对策

• 计数效率与死时间漂移：可伪造平台与台阶；采用交错基线档位、实时效率标定与独立死时间模型；效率漂移注入对照必须被识别并打碎。
• 强场引入的热史/应力史滞回：可伪造门槛滞回；执行上扫/下扫一致性与固定再稳定等待窗；以温度、应力与场噪声全程记录作为协变量上限约束。
• 谱线/能谱拟合口径漂移：分支比提取对拟合窗与背景敏感；双独立拟合管线交叉；分支补偿结构必须跨管线保持。

十、成败线（一句话版）
若速率残差呈可复验的门槛离散平台结构，且分支比在门槛处同步补偿改写并在衰变链上呈同门槛联动（在统一张度指数下可对齐），同时空检可分，则支持本章预测；若无稳定门槛集、无同步补偿或空检同样显著，则否证本章预测。