目录文档-技术白皮书22-EFT.WP.Metrology.Instrument v1.0

第8章 触发、采样与时基(与 TimeBase 对齐)


一句话目标:统一仪器层的触发口径、采样与时基表达,给出 Fs/T_s/T_ap/J/offset/skew 的可计量定义与流程,并与《TimeBase》卷在 tau_mono/ts、T_arr 两口径上严格对齐与落盘。


I. 范围与对象

  1. 范围
    • 触发:模拟/数字/光电触发,阈值/窗/模式触发,预触发/后触发与重臂(rearm)。
    • 采样:S/H 光圈 T_ap、采样率 Fs、过采样/抽 decimation、抗混叠 AA(f)。
    • 时基:样本时间标注语义、offset/skew/J 估计与与 tau_mono → ts 映射。
  2. 对象
    单/多通道同步采样;跨设备对时;含硬件/软件/混合时间戳链路。
  3. 产出
    Fs, T_s, T_ap, J, offset, skew, t_k 标注语义、AA(f)、decim(R, H_aa),以及 manifest.instrument.time.*。

II. 名词与变量


III. 公设 P708-*


IV. 最小方程 S708-*


V. 计量流程 M70-8(触发→采样→时基→重采样→一致化→落盘)


VI. 契约与断言 C70-8*


VII. 实现绑定 I70-8*(接口原型)


VIII. 交叉引用


IX. 质量与风控


小结

可比、可追溯、可审计 的一体化口径,确保跨设备与跨卷的时间一致性 触发→采样→时基→重采样→到达时本章以 P708-* / S708-* / M70-8 / C70-8* / I70-8* 规范了

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首次发布: 2025-11-11|当前版本:v5.1
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