目录文档-技术白皮书04-EFT.WP.Core.Metrology v1.0

附录B 计量过程模板与示例


I. 流程总览


II. 模板 B1:测量模型注册与量纲校验(承接 Mx-1)

  1. 适用:任意被测量 measurand 的首次建模与入库。
  2. 步骤
    • 定义被测量与单位:measurand = "y",unit(y) 明确;声明输入列 inputs = [x_1, ..., x_p] 与其单位。
    • 建模:给出 y = f(x),若存在路径积分,显式 gamma(ell) 与测度 d ell。
    • 量纲校验:调用 check_dim( y - f(x) ),要求返回 [] 或目标量纲字符串一致。
    • 注册:
      1. register_measurement(code, model="explicit", measurand="y", inputs, unit=unit(y), trace=[...]) -> MRef
      2. 记录 traceability_chain(MRef),确保溯源至 SI。
  3. 约束
    • 若使用无量纲化:声明 L0、t0(默认 t0 def= L0 / c_ref),并给出 nondim / re_dim 映射。
    • 冲突名复核:T_fil(N)与 T_trans(1)严禁混用。

III. 模板 B2:不确定度预算与合成(承接第5章)

  1. 适用:线性或可线性化的测量模型。
  2. 步骤
    • 类型 A:u_A(x_i) = unc_typeA(samples_i)(样本标准不确定度)。
    • 类型 B:u_B(x_i) = unc_typeB(spec_i)(说明书、校准证书或环比数据)。
    • 合并输入不确定度:u(x_i) = sqrt( u_A(x_i)^2 + u_B(x_i)^2 )。
    • 形成输入协方差:Cov[x],含相关项;若近似独立,显式 approx independence 并令非对角为 0。
    • 线性化与雅可比:J = ∂f/∂x |_{x = x_hat}。
    • 合成不确定度:u_c(y) = sqrt( J * Cov[x] * J^T )。
    • 扩展不确定度:U = k * u_c(y),k 依覆盖概率与有效自由度取值。
  3. 校验
    check_dim(J_i * x_i) 与 check_dim(u_c(y)) 必与 dim(y) 一致。

IV. 模板 B3:报告出具与合格判定

  1. 适用:需要公布结果与是否满足容差 tol 的场景。
  2. 步骤
    • 舍入:(y_disp, digits) = round_by_unc(y_hat, U);遵循“先合成,后舍入”。
    • 防护带:guard_band(y_hat, U, tol, rule="shared-risk") -> decision。
    • 出具报告字段
      1. result = y_disp (unit(y))
      2. U = k * u_c(y) 与覆盖概率
      3. RefCond 与 corr_env(如适用)
      4. traceability_chain
      5. unit_policy 与 check_dim 通过声明

V. 示例 S-B1:到达时 T_arr 的测量闭环(含两口径)

  1. 模型与口径
    • 常量外提:T_arr = ( 1 / c_ref ) * ( ∫_gamma n_eff d ell )
    • 一般口径:T_arr = ( ∫_gamma ( n_eff / c_ref ) d ell )
    • 近似离散化:∫_gamma n_eff d ell approx n_eff_avg * L_gamma
    • 代入得:T_arr approx ( n_eff_avg * L_gamma ) / c_ref
  2. 单位与量纲
    unit(T_arr) = s,dim(T_arr) = "[T]";check_dim 通过:"[L]" * "[]" / "[L][T]^-1" -> "[T]"。
  3. 输入与不确定度
    • x = [ n_eff_avg, L_gamma, c_ref ]
    • u(n_eff_avg) 来自类型 B 折射率模型;u(L_gamma) 来自路径溯源;u(c_ref) 来自参考光速或介质相速度标定。
    • 雅可比
      1. ∂T_arr/∂n_eff_avg = L_gamma / c_ref
      2. ∂T_arr/∂L_gamma = n_eff_avg / c_ref
      3. ∂T_arr/∂c_ref = - ( n_eff_avg * L_gamma ) / c_ref^2
    • 若 Cov[x] 近似对角:u_c(T_arr) = sqrt( Σ_i (∂T_arr/∂x_i)^2 * u(x_i)^2 )。
  4. 报告与判定
    • U = k * u_c(T_arr);(T_arr_disp, digits) = round_by_unc( T_arr_hat, U )
    • 若规格 tol_T:guard_band(T_arr_hat, U, tol_T, "shared-risk")
  5. 溯源链(示例)
    • ∫_gamma d ell → gauge block / interferometer → m (SI)
    • time base → frequency standard → s (SI)
    • 折射率模型 n_eff → 已发布模型与工况 RefCond

VI. 示例 S-B2:环境修正的长度测量(干涉仪)

  1. 模型
    • 原始读数:L_raw(光学系统内标尺长度)
    • 空气修正:L = corr_env( L_raw; RefCond ),其中 corr_env = L_raw * ( n_air / n_ref ) 或等效形式
  2. 量纲与单位
    unit(L) = m;dim(L) = "[L]";corr_env 同维返回。
  3. 不确定度预算
    • 输入:x = [ L_raw, n_air ](n_ref 视为常量或含入类型 B)
    • 雅可比:∂L/∂L_raw = n_air / n_ref,∂L/∂n_air = L_raw / n_ref
    • u_c(L) = sqrt( (∂L/∂L_raw)^2 u(L_raw)^2 + (∂L/∂n_air)^2 u(n_air)^2 + 2 Cov(L_raw, n_air) (∂...)(∂...) )
  4. 溯源链
    • L_raw → laser wavelength → frequency standard → s ↔ Hz → m
    • n_air → empirical model (p, Temp, humidity),p, Temp 分别溯源至 Pa、K

VII. 示例 S-B3:非零点单位的温度测量与转换

  1. 模型
    • Temp_K = Temp_C + 273.15(仿射转换)
    • dim(Temp_K) = "[Temp]",check_dim 通过(偏移 b 合法)
  2. 不确定度
    u(Temp_K)^2 = u(Temp_C)^2 + u(273.15)^2,通常视 u(273.15) approx 0
  3. 报告
    以 K 为主报告单位;如需并列,注明仿射关系。

VIII. 溯源链样例(三条汇总)


IX. 脚本片段(I40- 对接)*

  1. 注册与量纲校验
    • register_measurement("MEAS.T_ARR", "explicit", "T_arr", ["n_eff_avg","L_gamma","c_ref"], "s", trace=["m","s"])
    • check_dim("(1/c_ref) * ∫ n_eff d ell") -> "[T]"
  2. 不确定度预算
    • J = [ L_gamma/c_ref, n_eff_avg/c_ref, - (n_eff_avg*L_gamma)/c_ref^2 ]
    • u_c = combine_uncertainty(J, u_inputs, Cov=None)
    • U = expanded_uncertainty(u_c, k=2.0)
  3. 报告与判定
    • (val, digits) = round_by_unc(T_arr_hat, U)
    • guard_band(val, U, tol=tol_T, rule="shared-risk")

X. 回归基线与检查清单


XI. 读者可复用的占位清单(替换花括号内容)


XII. 与其他卷的锚点对齐


版权与许可(CC BY 4.0)

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首次发布: 2025-11-11|当前版本:v5.1
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