目录文档-技术白皮书(V5.05)29-EFT.WP.TBN.Measurement v1.0

第5章 相位噪声与 Allan 家族


一句话目标:给出 S_phi(f)↔S_y(f)↔sigma_y(τ) 及 ADEV/MDEV/HDEV/TDEV 的可计算口径、单位与测度,覆盖功率律噪声识别、偏置修正与置信区间,确保与 T_arr 两口径及清单发布一致、可审计


I. 范围与对象

  1. 输入
    • 谱与序列:S_phi(f), S_y(f)(第2章),频率偏差序列 y(t_k) 或时间误差序列 x(t_k)(x 为相位时间)。
    • 窗口与采样:W=[ts-Δt,ts],采样间隔 τ_0,门限与带宽 RBW/ENBW,窗函数 w(t)。
    • 参考条件:RefCond(f_ref/Fs/RBW/ENBW/window_fn、时标 tau_mono/ts、源 hash/有效期/coverage)。
  2. 输出
    • Allan 家族:ADEV sigma_y(τ)、Modified ADEV mod_sigma_y(τ)、Hadamard HDEV、Time Deviation TDEV,及功率律噪声参数 h_α。
    • 统计与不确定度:有效自由度 ν_eff(τ)、置信区间 U=k·u_c、偏置/死区修正。
    • 清单:manifest.tbn.allan.*(方法/测度/单位/置信与证据 URI)。
  3. 边界
    默认 AWGN/平稳无死区(overlapped)工程口径;非平稳/死区采样需显式标注与修正。

II. 名词与变量


III. 公设 P505-*


IV. 最小方程 S505-*

  1. 谱—统计—时间域的核心关系
  1. Allan 家族离散公式(无死区、重叠)
  1. 功率律噪声型与 sigma_y(τ) 标度(工程近似)
  1. 有效自由度与置信区间
  1. 死区采样与偏置修正
  1. 从 S_phi/S_y 直接合成 Allan

V. 计量流程 M50-5(就绪→变换/估计→识别→校核→落盘)

  1. 就绪:冻结 RefCond 与 RBW/ENBW/window_fn;设定 τ 网格(对数均匀)与 W;选择重叠/无死区口径与偏置修正策略。
  2. 变换/估计
    • 由 y(t) 计算 ADEV/MDEV/HDEV/TDEV(S505-2/离散式);
    • 或由 S_y(f) 积分得到 sigma_y(τ)(S505-6),并交叉校核。
  3. 识别/拟合
    在多段 τ 上拟合斜率,识别噪声型并估 h_α;输出噪声份额。
  4. 校核
    • check_dim(sigma_y)=1, check_dim(TDEV)='[T]';死区/重叠口径与 ν_eff 记录;
    • Allan ↔ 频谱/CRLB 一致性(第2章/第4章);
    • 与 T_arr^{form1/form2} 同窗发布(必要时记录其对 delta_form 的方法分量)。
  5. 落盘
    manifest.tbn.allan = {method:{ADEV|MDEV|HDEV|TDEV}, window:{W,τ_grid,deadtime,overlap}, spectra:{RBW,ENBW,window_fn}, results:{sigma_y,mod_sigma_y,HDEV,TDEV}, ν_eff,k,U, noise_fit:{h_α,slopes}, refs:{S_y|y(t)}, RefCond, contracts.*, signature}。

VI. 契约与断言 C50-5x(建议阈值)


VII. 实现绑定 I50-5*(接口原型、输入输出、不变量)


VIII. 交叉引用

数学基线与两口径:第2章;采集与时标:第3章;估计器:第4章;链路与环境修正:第6–7章;解析 vs 基准:第10章;不确定度与上线门:第11–12章。

IX. 质量与风控


小结


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