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I. 章节目标与结构
- 目标:构建从网表/版图到张度地形参数的电路级联合建模与反演框架,输出可用于设计与诊断的参数后验、证据与模型比较指标;与 S20-* / S40-* / S50-* / I30-* / M10-* / M20-* / 第8章 在同一计量与记录口径下闭环。
- 结构:I40-1 电路级绑定接口 → Mx-1 参数表与默认先验 → Mx-2 似然与证据计算 → Mx-3 模型比较与选择 → Mx-4 反演与不确定度传播 → 数据结构与记录 → 合规模板 → 对应与退化 → 跨章指引与小结。
- 共享口径(到达时两式,显式 gamma(ell)、d ell,并记录 delta_form):
- 常量外提:T_arr = ( 1 / c_ref ) * ( ∫ n_eff d ell )
- 一般口径:T_arr = ( ∫ ( n_eff / c_ref ) d ell )
II. 变量与单位(本章新增)
- netlist:电路网表(端口/器件/拓扑/元件值)。
- layout:版图/走线/层叠/护线与介质栈。
- binding:布局到物理路径的绑定记录,含 path = { γ_p(ell) }、段级 n_eff 与权重 w_p。
- θ:参数向量;子集 θ_T(张度相关:K_s, K_t, w_p 等),θ_E(等效电参数:σ_eff 或 Σ_eff 等),θ_N(噪声/对齐/去嵌等杂散参数)。
- Z_model(omega; θ):模型阻抗;Z_ref(omega):参考阻抗;Z_eft(omega; θ)=Z_ref+ΔZ_T(θ)。
- π(θ):先验;L(data|θ):似然;p(θ|data):后验;Z_evid:证据。
- 单位遵循 SI;所有关键等式需 check_dim=pass。
I40-1 电路级绑定接口(Circuit Binding, API)
陈述
- 将 netlist + layout + binding 编译为含显式路径 gamma(ell)、到达时项 T_arr 与权重 w_p 的可求导电路模型,统一端口、去嵌与时间基。
接口原型(最小可执行)
I40-1:
- id: "bind.compile"
proto: "compile(netlist, layout, binding, bc, options) -> model_handle"
- id: "bind.predict"
proto: "predict(model_handle, theta, freq_grid) -> {Z_model(ω), T_arr_p(ω), w_p(ω)}"
- id: "bind.jacobian"
proto: "jacobian(model_handle, theta, freq_grid) -> ∂Z/∂θ"
- id: "bind.update_paths"
proto: "update_paths(model_handle, binding_ref) -> model_handle'"
requirements:
arrival_record: {form, gamma, measure, c_ref, delta_form}
qa_gates: ["check_dim","passivity(Re{Z}≥0)","KK_consistency"]
适用域与约束
- 端口/探针通过 anchors 对齐;deemb 与 sync 一致;binding 与 I30-* 同步版本控制。
可证伪要点
- 若 predict() 在已校准参考夹具上未通过被动性/K–K 或与 T_arr 记录不一致,则否决绑定设定或适用域。
Mx-1 参数表与默认先验(Parameters & Priors)
参数分组与符号
- 导通/介质(等效):σ_eff(或各向异性 Σ_eff),约束 σ_eff ≥ 0。
- 张度核/路径:K_s, K_t 的幅值与时间常数(或谱密度参数);w_p(w_p ≥ 0, Σ_p w_p ≤ 1);段级 n_eff[i]。
- 杂散:Δt_sync、noise_scale、deemb 修正因子(若作为待估)。
先验建议(发布默认)
- σ_eff/Σ_eff:lognormal(μ, s) 或半正态 halfnormal(σ)。
- K_s,K_t 幅值:halfnormal;时间常数:loguniform 于工程区间。
- w_p:dirichlet(α⃗)(稀疏设计取 α⃗<1)。
- n_eff[i]:围绕标定值 n̂_eff[i] 的高斯或折叠高斯,收敛门限由 M10-* 给出。
- Δt_sync:零均值高斯,方差来自 M10-* 的同步预算。
参数卡(示例)
params:
sigma_eff: {prior: "lognormal", mu: -12.0, s: 0.8, unit: "S/m"}
Ks_amp: {prior: "halfnormal", sigma: 0.5, unit: "A·m^-2"}
Ks_tau: {prior: "loguniform", low: 1e-12, high: 1e-7, unit: "s"}
w: {prior: "dirichlet", alpha: [0.3,0.3,0.3]}
n_eff_seg: {prior: "normal", mu: n_eff_hat, sigma: 0.05*mu}
dt_sync: {prior: "normal", mu: 0.0, sigma: 2.0e-12, unit: "s"}
Mx-2 似然与证据计算(Likelihood & Evidence)
似然(复阻抗域;白化后)
- 实部/虚部联合高斯:
L(data|θ) ∝ exp( -½ Σ_ω [ (Re ε_ω)^T W_ω (Re ε_ω) + (Im ε_ω)^T W_ω (Im ε_ω) ] )
其中 ε_ω = Z_meas(ω) - Z_model(ω; θ),W_ω 为噪声与去嵌不确定度的逆协方阵。 - 幅相表述(可选):对 |Z| 与 arg Z 独立高斯,arg Z 需在相干窗内并扣除同步项 ω·Δt_sync。
证据与正则
- 证据 Z_evid = ∫ L · π dθ;工程近似可用拉普拉斯近似或嵌套采样;必须通过被动性与 K–K 作为硬门。
- 软约束:Re{Z_model}≥0、核谱无右半平面极点,以惩罚或先验实现。
Mx-3 模型比较与选择(Model Selection)
候选模型
- M_classic:仅 Z_ref(ω; θ_E);
- M_eft-min:Z_ref + ΔZ_T,ΔZ_T 由 K_s/K_t 的最小形产生;
- M_eft-ms:M_eft-min + 多尺度/多路径权重 w_p(ω)。
比较指标
- Δlog Z = log Z_evid(M_i) - log Z_evid(M_j);阈值:>5 强证据,2–5 中等。
- 备选:AIC/BIC 与留一验证误差(当证据难以稳定时)。
选择准则
- 先证据、后复杂度;若并列,优先满足更强外推一致性与更少参数耦合的模型。
Mx-4 反演与不确定度传播(Inference & UQ)
反演流程
- 初始化:以 M10-* 标定值设定先验中心;编译 model_handle。
- MAP/ML:用 GN/LM 或拟牛顿获得 θ_MAP。
- 后验抽样:HMC/NUTS 或 SMC 抽样,得到 p(θ|data)。
- UQ 传播:将后验传播到 T_arr,p(ω)、arg Z(ω)、w_p(ω) 与设计指标(相位斜率、带内纹波等)。
- PPC:后验预测检验(残差白化、频域相关性、被动性/K–K 二次核验)。
输出
- θ_MAP、θ_mean、CI/HPD、corr(θ)、log Z_evid、posterior_predictives。
- 诊断:R̂、有效样本数、残差谱与门限通过情况。
VII. 数据结构与记录(最小模板)
inversion:
model_id: "EDX-Current-eft-ms"
freq_grid_Hz: [...]
priors: {...} # 见 Mx-1
results:
theta_map: {...}
theta_mean: {...}
CI_95: {...}
logZ: -1234.5
diagnostics: {Rhat: {...}, ess: {...}}
arrival:
form: "n_over_c"
gamma: "explicit"
measure: "d_ell"
qa_gates: {check_dim:"pass", passivity:"pass", KK:"pass"}
VIII. 合规模板(执行片段,可直接粘贴)
- 模型阻抗最小式(与 S50-* 对齐):
Z_eft(ω; θ) = Z_ref(ω; θ_E) + Σ_p w_p(ω; θ_T) · ∫_{γ_p} ( A_s(ω; θ_T) · ( τ·∇T_fil ) + A_t(ω; θ_T) · ( ∂T_fil/∂t ) ) d ell - 似然白化与同步改正:
arg Z_corr(ω) = arg Z_meas(ω) - ( ω · Δt_sync ) - 证据门:
check_dim=pass ; Re{Z_eft}≥0 ; KK_consistency=pass
IX. 可证伪准则(反演侧)
- PPC 失败:后验预测在预注册频带内系统性偏离(非白残差)即否决当前核或权重模型。
- 两口径一致性:用两种 T_arr 口径反演所得 θ 的关键派生量(如 T_arr,eff、相位斜率)应一致(在 u(T_arr) 内);否则检查 delta_form 与路径记录。
- 路径/温度外推:在路径切换或介质微扰数据上,后验外推若不随 ΔT_arr/Δn_eff 作线性响应,则否决模型或先验。
X. 与经典框架的对应与退化
当 K_s=K_t=0 或 w_p 对主路径取 1、其余为 0 时,Z_eft → Z_ref,反演退化为经典等效电参数拟合;差异项由显式路径 gamma(ell) 与 T_arr 记录带来的可追溯性与可证伪性保留。XI. 跨章指引与小结
- 依赖与衔接:I30-*(绑定/对齐)、S20-*(最小方程)、S40-*(核与多路径)、S50-*(阻抗映射)、M10-*(计量链)、M20-*(证伪流程)。
- 小结:本章将电路级建模与参数反演固化为 I40-* / Mx-* 的执行口径,通过统一的先验—似然—证据—PPC—设计指标链路,将张度地形、路径与阻抗从数据层到设计层闭环于同一可复现、可证伪的工程流程。
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首次发布: 2025-11-11|当前版本:v5.1
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