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第13章 EMI/EMC 与张度地形工程(与 EDX.EMI)


I. 章节目标与结构

  1. 目标:将发射(Emission)与抗扰度(Immunity)问题表述为张度地形 T_fil(x,t)、路径族 gamma(ell)、权重 w_p(omega) 与辐射正实修正 ΔZ_rad(omega) 的工程化问题,给出可检验的设计规程、计量与合规门限记录方式,使高频互连、阻抗映射与版图绑定在 EMI/EMC 语境下闭环。
  2. 结构:机理映射 → 抗扰耦合通道 → 地形工程与设计规则 → 合规评估与计量 → 可证伪准则 → 合规模板 → 对应与退化 → 跨章指引与小结。
  3. 公共口径(两式等价,显式路径/测度并记录 delta_form):
    • 常量外提:T_arr = ( 1 / c_ref ) * ( ∫ n_eff d ell )
    • 一般口径:T_arr = ( ∫ ( n_eff / c_ref ) d ell )

II. 变量与单位(本章新增)


III. 发射机理的张度映射(Emission as Landscape Leakage)

陈述

适用域与约束

可证伪要点


IV. 抗扰度机理与耦合通道(Immunity as Reverse Coupling)

陈述

  1. 抗扰耦合通道在 EFT 语境下等效为对 T_fil 的外部驱动与对权重 w_p 的再分配:
    • 辐射耦合:外场 E_ext, H_ext 使 w_p 朝开口/缝隙路径上升,ΔZ_rad 增大。
    • 传导耦合:注入端口的共模源使 γ_return 路径改变,T_arr 与 arg Z 平移。
    • 电缆耦合:缆束的公共电感/电容引入新 γ_side(cable),提升 w_side。

适用域与约束

  1. 抗扰注入水平视为外界工况参数,不改变本卷计量口径;响应以 Z_eft、T_arr、I_CM、|E|/|H| 为观测量。

可证伪要点

  1. 在固定注入条件下,若调整屏蔽/返回路径未引发 w_p 的预期变化(由 Δarg Z、T_group 与近场图证实),则否决耦合通道建模或绑定记录。

V. 张度地形工程与设计规则(Shield–Ground–Path Co-Design)

  1. 屏蔽连续性(缝隙与开口)
  1. 返回路径与缝合过孔(Stitching)
  1. 护线与分叉/弯折
  1. 电缆与连接过渡
  1. 材料与频散

VI. 合规评估与计量(与 I30/M10/M20 对齐)

评估口径

记录与门限


VII. 可证伪准则(EMI/EMC 场景)


VIII. 合规模板(可直接粘贴)

emi_emc:

mode: ["emission","immunity"]

band_GHz: [f_min, f_max]

scans:

near_field: {grid_mm: 2.0, E_map: "...", H_map: "..."}

far_field: {range_m: 3.0, E_peak_dB: "..."}

common_mode:

I_CM_A: [...]

radiation_correction:

Re_dZrad: [...]

KK_consistency: "pass"

binding_ref: "LAY2PATH-xxxx"

arrival:

form: "n_over_c" # or "one_over_c_times_n"

gamma: "explicit"

measure: "d_ell"

c_ref: 299792458.0

Tarr_s: 1.234e-09

u_Tarr_s: 6.0e-12

weights:

w_main: [...]

w_side: [...]

qa_gates: ["check_dim","passivity(Re{Z}≥0)","KK_consistency"]

# Phase/coherence gates (Chapter 12)

E_phase = max_abs(phi - (omega*Tarr + phi0_opt))

GDR = max_abs(T_group - median(T_group))

# EMI drift & radiation gates

ΔW = sum_abs(w_p[w2] - w_p[w1])

pass_radiation = (min(Re_dZrad) >= 0.0)

decision = all([

E_phase <= E_phase_gate,

GDR <= GDR_gate,

ΔW <= ΔW_gate,

pass_radiation

])


IX. 与经典框架的对应与退化

在低频或闭合回流充分、开口/缝隙可忽略时:ΔZ_rad → 0、w_side → 0,本章退化为经典的“连续参考面 + 单路径传播 + 端口去嵌”的合规模型;Z_eft → Z_ref,发射与抗扰均可由传统传输线/屏蔽近似解释。

X. 跨章指引与小结


版权与许可(CC BY 4.0)

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首次发布: 2025-11-11|当前版本:v5.1
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