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第13章 EMI/EMC 与张度地形工程(与 EDX.EMI)
I. 章节目标与结构
- 目标:将发射(Emission)与抗扰度(Immunity)问题表述为张度地形 T_fil(x,t)、路径族 gamma(ell)、权重 w_p(omega) 与辐射正实修正 ΔZ_rad(omega) 的工程化问题,给出可检验的设计规程、计量与合规门限记录方式,使高频互连、阻抗映射与版图绑定在 EMI/EMC 语境下闭环。
- 结构:机理映射 → 抗扰耦合通道 → 地形工程与设计规则 → 合规评估与计量 → 可证伪准则 → 合规模板 → 对应与退化 → 跨章指引与小结。
- 公共口径(两式等价,显式路径/测度并记录 delta_form):
- 常量外提:T_arr = ( 1 / c_ref ) * ( ∫ n_eff d ell )
- 一般口径:T_arr = ( ∫ ( n_eff / c_ref ) d ell )
II. 变量与单位(本章新增)
- E_rad(omega, r)、H_rad(omega, r):近/远场探测场量(V·m⁻¹、A·m⁻¹)。
- I_CM(omega)、V_DM(omega):共模电流、差模电压(A、V)。
- ΔZ_rad(omega):辐射/泄放引入的等效正实阻抗修正(Ω),Re{ΔZ_rad}≥0。
- w_p(omega):路径权重(无量纲),Σ_p w_p ≤ 1。
- σ_seam:屏蔽缝隙/开口等效电导(S),用于表征屏蔽连续性。
- 其余符号按第2–12章口径:n_eff(omega), T_fil, gamma(ell), Z_eft(omega) 等。
III. 发射机理的张度映射(Emission as Landscape Leakage)
陈述
- 高频发射可等效为路径-权重提升与边界不连续导致的地形泄放:
Z_eft(omega) = Z_ref(omega) + ΔZ_T(omega) + ΔZ_rad(omega),其中 ΔZ_rad 由缝隙/缆束/长悬空支路与参考面中断触发;同时引起 w_p(omega) 向外泄路径 γ_side 转移、ΔT_arr 差增大。 - 近/远场幅相包络与共模电流近似:
|E_rad| ∝ g_env(omega, r) · Σ_p w_p(omega) · |ΔZ_rad(omega)|,
|I_CM| ≈ h_cpl(omega) · Σ_p w_p(omega)(g_env, h_cpl 为装置/环境耦合因子)。
适用域与约束
- 频段处于第12章相干窗内或近邻;ΔZ_rad 的引入不得破坏被动性与 K–K 一致性;check_dim=pass。
可证伪要点
- 通过封堵缝隙/增加返回路径等仅改变边界连续性的手段,使 Re{ΔZ_rad} 降低并伴随 |E_rad|、|I_CM| 同向下降(在不确定度内),否则否决 ΔZ_rad 或 w_p 模型。
IV. 抗扰度机理与耦合通道(Immunity as Reverse Coupling)
陈述
- 抗扰耦合通道在 EFT 语境下等效为对 T_fil 的外部驱动与对权重 w_p 的再分配:
- 辐射耦合:外场 E_ext, H_ext 使 w_p 朝开口/缝隙路径上升,ΔZ_rad 增大。
- 传导耦合:注入端口的共模源使 γ_return 路径改变,T_arr 与 arg Z 平移。
- 电缆耦合:缆束的公共电感/电容引入新 γ_side(cable),提升 w_side。
适用域与约束
- 抗扰注入水平视为外界工况参数,不改变本卷计量口径;响应以 Z_eft、T_arr、I_CM、|E|/|H| 为观测量。
可证伪要点
- 在固定注入条件下,若调整屏蔽/返回路径未引发 w_p 的预期变化(由 Δarg Z、T_group 与近场图证实),则否决耦合通道建模或绑定记录。
V. 张度地形工程与设计规则(Shield–Ground–Path Co-Design)
- 屏蔽连续性(缝隙与开口)
- 规则:以“缝隙等效导通”最小化为目标,降低 σ_seam 与开口等效长度;网格化地线/缝隙周期化控制,使开口特征尺度低于目标波长的工程门限;在绑定层记录缝隙路径进入 γ_side。
- 预期:Re{ΔZ_rad} 随有效开口减少而下降,ΔW = Σ_p |w_p(ω₂)-w_p(ω₁)| 收敛。
- 返回路径与缝合过孔(Stitching)
- 规则:为高速差分与关键回路提供就近闭合返回,在层间/参考面切换处布置缝合过孔环,限制返回环路面积,抑制 w_side(omega) 与 ΔT_arr。
- 预期:arg Z 的线性相位误差 E_phase 与群时延纹波 GDR 同时降低。
- 护线与分叉/弯折
- 规则:弯折圆角化、分叉等长化,护线闭合接地并在端点缝合;避免长悬空支路进入 γ_side。
- 预期:高频端 |E_rad| 下降,w_p 向主路径回流。
- 电缆与连接过渡
- 规则:连接过渡几何锥度化、地指优化;缆束成组回流并抑制公共阻抗耦合;必要时在 ΔZ_rad 通道加入吸收/损耗件,但保持 Re{Z_eft}≥0。
- 材料与频散
- 规则:在参数先验中为 n_eff(omega)、σ_eff(omega) 加带限与平滑先验,避免过拟合导致的非物理波动与“假发射/假抗扰”。
VI. 合规评估与计量(与 I30/M10/M20 对齐)
评估口径
- 发射侧:以近/远场扫描与共模电流为主观测量,配对 Z_eft(omega)、ΔZ_rad(omega) 与路径记录。
- 抗扰侧:以功能门限/误码率/幅相漂移等工况判据为主,并用 Δarg Z、T_group 验证路径与到达时变化。
记录与门限
- 必记录:arrival{form,gamma,measure,c_ref,Tarr,u_Tarr}、delta_form、binding_ref、anchors、deemb、sync,并通过 check_dim、被动性与 K–K 一致性门。
- 合规阈值的具体数值由合规团队在发布前置入数据卡(本卷不内置数值,仅定义记录字段与判据逻辑)。
VII. 可证伪准则(EMI/EMC 场景)
- J1 屏蔽缝隙实证:在保持网表与材料不变,仅改变缝隙/开口几何,若 Re{ΔZ_rad} 与 |E_rad| 未随之同步下降,则否决 ΔZ_rad 建模或屏蔽等效参数。
- J2 返回路径切换:切换返回路径与缝合密度,Δarg Z(omega) 应呈线性平移并与 ΔT_arr 一致(相干窗内);否则否决路径绑定或 w_p 计算。
- J3 电缆耦合判据:改变缆束回流/夹具路由,I_CM 与近场图的热点应与 γ_side(cable) 的权重变化一致;否则否决耦合通道设定。
- J4 抗扰注入一致性:恒定注入下,若相位/群时延未显示与 w_p 预测一致的偏移,则否决抗扰模型或注入工况记录。
VIII. 合规模板(可直接粘贴)
- EMI/EMC 记录(报告/数据)
emi_emc:
mode: ["emission","immunity"]
band_GHz: [f_min, f_max]
scans:
near_field: {grid_mm: 2.0, E_map: "...", H_map: "..."}
far_field: {range_m: 3.0, E_peak_dB: "..."}
common_mode:
I_CM_A: [...]
radiation_correction:
Re_dZrad: [...]
KK_consistency: "pass"
binding_ref: "LAY2PATH-xxxx"
arrival:
form: "n_over_c" # or "one_over_c_times_n"
gamma: "explicit"
measure: "d_ell"
c_ref: 299792458.0
Tarr_s: 1.234e-09
u_Tarr_s: 6.0e-12
weights:
w_main: [...]
w_side: [...]
qa_gates: ["check_dim","passivity(Re{Z}≥0)","KK_consistency"]
- 设计验收(伪代码)
# Phase/coherence gates (Chapter 12)
E_phase = max_abs(phi - (omega*Tarr + phi0_opt))
GDR = max_abs(T_group - median(T_group))
# EMI drift & radiation gates
ΔW = sum_abs(w_p[w2] - w_p[w1])
pass_radiation = (min(Re_dZrad) >= 0.0)
decision = all([
E_phase <= E_phase_gate,
GDR <= GDR_gate,
ΔW <= ΔW_gate,
pass_radiation
])
IX. 与经典框架的对应与退化
在低频或闭合回流充分、开口/缝隙可忽略时:ΔZ_rad → 0、w_side → 0,本章退化为经典的“连续参考面 + 单路径传播 + 端口去嵌”的合规模型;Z_eft → Z_ref,发射与抗扰均可由传统传输线/屏蔽近似解释。X. 跨章指引与小结
- 依赖:第8章(路径与到达时)、第12章(高频色散/辐射)、S40-*(核与多路径)、S50-*(阻抗映射)、I30-*(绑定/对齐)、M10-* / M20-*(计量与证伪)。
- 落地:在设计规程(第 XVI 章)中,将 E_phase、GDR、ΔW 与 Re{ΔZ_rad}≥0、被动性与 K–K 门纳入发布清单;屏蔽/返回/护线的几何修改须同步更新 binding_ref 与路径记录。
- 小结:本章把 EMI/EMC 问题纳入“张度地形—路径—权重—阻抗—辐射正实修正”的统一框架,给出屏蔽连续性、返回路径、护线与连接过渡的工程规则,以及与计量和证伪对齐的记录与门限,使发射与抗扰在相同数据口径下可预测、可调参、可验证。
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首次发布: 2025-11-11|当前版本:v5.1
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