第63章：β⁻转化的几何伴随效应（质子态增长＋电子波包成核＋反中微子波团时间相关）

目录 ／ 附录-1. 预测和证伪（V6.0）

一、前言
第59章把“重联—回响”作为束缚带跨阈值的时间域指纹；第60–62章把中子与质子在近场纹理与环境耦合上的差异压成可检的符号与标度。本章将同一套“阈值＋重联”的语言落到 β⁻ 转化：n → p + e⁻ + ν̄e。其关键不在于给出新的守恒律或新的终态清单，而在于提出一个可被实验直接对齐的“几何伴随效应”：当转化发生时，质子态与电子波包不是抽象地“在末态里出现”，而是以同窗共现、同轴对齐、可追踪的近场几何指纹出现；反电子中微子以波团形式带走相位—动量差，其时间相关可通过弱测与缺失动量闭合被间接读出。

二、预测（核心一句话）
在可控脉冲驱动跨越阈值 Pth 的条件下，β⁻ 转化事件将呈现“三联同窗指纹”：

• 质子态增长：在事件时刻 tβ 附近，局部近场纹理由“中子对消型”切换为“质子外向纹理型”，且该切换与质子出现的经典读出（电荷、回旋、束缚态标记等）时间同窗一致；
• 电子波包成核：在同一时间窗内出现电子波包的成核读出（电子探测触发、或电子近场取向纹理的内向型指纹），并与质子态增长呈显著的时序耦合；
• 反中微子波团时间相关：以电子与质子的动量闭合得到的缺失量，与一条弱测通道上提取到的“无色散公共项”时间台阶/短促包络存在统计显著的事件级相关。
  当脉冲低于阈值（P<Pth）或脉冲关闭时，上述三联同窗指纹显著弱化，仅保留基线自发转化的稀疏事件分布，且不出现可重复的“时间锁定聚簇”。

三、一句话目标
用“同窗共现的质子态增长＋电子波包成核＋缺失量相关的弱测台阶”三联判据，把 β⁻ 转化从“末态列表”提升为“可定位的几何事件”。

四、要测什么

1. 事件时间标记：
   • 电子触发时刻 te；
   • 质子触发时刻 tp；
   • 脉冲触发时刻 t0；
   • 事件窗定义为 [t0, t0+ΔT]（ΔT 预注册）。
2. 质子态增长量：
   • 在事件窗内的质子出现率 Rp,on，与无脉冲基线 Rp,off 的差；
   • 与质子外向纹理一致的近场读出量（如 OAM 手性散射的符号响应、或极化条带的符号响应），记为 Sp。
3. 电子波包成核量：
   • 事件窗内电子出现率 Re,on，与无脉冲基线 Re,off 的差；
   • 与电子内向纹理一致的近场读出量，记为 Se。
4. 同窗耦合量：
   • 电子—质子符合计数的同窗概率 Pc(Δt)，其中 Δt = tp−te；
   • 电子与质子发射方向相对脉冲轴（或自旋定向轴）的角分布各向异性指标 A（方向翻转应可仲裁）。
5. 缺失量与弱测量：
   • 由 p 与 e⁻ 的动量闭合得到的缺失量 pmiss 与 Emiss（按预注册口径计算）；
   • 弱测通道的公共项读出 Δtcommon（或等效相位台阶 Δφcommon），要求跨频无色散与符号定义固定；
   • 相关量 Corr(pmiss, Δtcommon)（或 Corr(Emiss, Δtcommon)）在事件级样本上的统计显著性。

五、怎么做

• 驱动与阈值扫描：对脉冲强度 P 做多档位扫描并包含方向翻转（+P/−P）；每档位重复足够次数以建立事件窗内的聚簇统计与 Pc(Δt) 的稳定形状；Pth 以“聚簇起跳”在预注册统计口径下定义。
• 同位同窗布置：质子与电子探测几何对称布置，弱测通道与转化区域同位布置，保证 tβ 关联可追踪；所有时间基准统一到同一时钟链路。
• 近场指纹并行采集：在不改变转化动力学的弱耦合条件下，设置一条近场读出（OAM/极化/相位敏感散射任选其一）持续采样，给出事件前后 Sp、Se 的符号与跃迁。
• 盲化：P 档位与方向随机编码；事件窗与非事件窗的划分、Pc(Δt) 的估计、弱测公共项的提取在未知 P 标签条件下完成；揭盲后仅执行预注册的阈值、同窗耦合与相关检验。
• 守恒闭合口径固定：动量闭合、能量闭合与系统修正（探测效率、死时间、背景扣除）在采数前冻结；不得在看到相关后回改闭合口径。

六、对照与空检

• 关闭脉冲对照：P=0 条件下重复同样采集，事件分布不得呈现以 t0 为锚的聚簇结构，Corr(pmiss, Δtcommon) 不得与“伪 t0”相关。
• 低于阈值对照：P<Pth 条件下，Pc(Δt) 与聚簇指标应显著弱于 P≥Pth；若仍同等显著，则阈值假说失败。
• 方向翻转对照：+P 与 −P 仅改变几何方向，不改变系统链路；A 的方向性应随翻转镜像，而 Pc(Δt) 的总体形状不应被翻转破坏。
• 置换对照：随机置换 t0 标签或随机置换弱测数据段，Corr(pmiss, Δtcommon) 应被打碎；若仍保持同等相关，则优先判为链路串扰或分析伪相关。
• 弱测无色散空检：在至少两种探测频段/两种读出带宽下，Δtcommon（或 Δφcommon）应保持无色散公共项特征；若呈现色散律或带宽依赖翻向，则判为介质/仪器项。

七、支持（通过）判据
同时满足以下三条，才算“通过”：

• 阈值聚簇成立：事件窗内的电子、质子与符合计数相对基线出现可重复的聚簇起跳，且可定义稳定的 Pth；P<Pth 与 P=0 下聚簇显著弱化。
• 几何同窗指纹成立：在同一事件窗内，Sp 呈质子外向纹理型跃迁、Se 呈电子内向纹理型跃迁，并与 te、tp 的时间排序形成稳定耦合（Pc(Δt) 形状跨批次复现）；方向翻转对照下，角分布各向异性 A 呈镜像响应。
• 缺失量相关成立：事件级样本中 Corr(pmiss, Δtcommon)（或 Corr(Emiss, Δtcommon)）显著偏离零，并在置换对照下被打碎；弱测公共项跨频无色散成立，且该相关只在 P≥Pth 的聚簇事件中显著。

八、否证（未通过）判据
出现以下任一类稳健结果即可否证：

• 无阈值聚簇：随 P 扫描不出现稳定起跳，或所谓 Pth 随口径/批次任意漂移。
• 无同窗几何指纹：Sp、Se 不呈稳定符号跃迁，或与 te、tp 的关系仅为随机符合；A 在方向翻转下不呈镜像且不可仲裁。
• 无缺失量相关：Corr(pmiss, Δtcommon) 在通过置换空检后与零不可区分，或相关只出现在 P=0/低于阈值的空检中。
• 弱测被色散/仪器解释：公共项读出呈色散律、带宽依赖翻向或可被已知串扰项完全复现。

九、系统误差与对策

• 脉冲串扰与触发伪相关：脉冲可能同步污染探测链路与弱测链路，制造假聚簇与假相关；采用电磁隔离、独立监测串扰、固定再稳定窗，并以 t0 置换对照强制打碎伪相关。
• 符合计数的死时间与效率漂移：死时间可在事件窗制造假起跳；交错序列与实时效率标定并行，符合计数用统一死时间模型修正并冻结。
• 动量闭合的系统偏置：探测几何、能量刻度与散射背景可偏移 pmiss；以对称几何与独立刻度源交叉校准，闭合误差在事件窗与非事件窗中应同分布，且不得随 P 同步变化。

十、成败线（一句话版）
若脉冲驱动跨越阈值后，β⁻ 转化呈现可复验的“质子态增长＋电子波包成核”同窗几何指纹，并且缺失量与弱测公共项在事件级建立可被空检打碎的时间相关，则支持本章预测；若阈值、同窗指纹或相关任一项不成立，或空检同样显著，则否证本章预测。