第64章：β⁺转化的镜像几何伴随效应（中子态增长＋正电子波包成核＋中微子波团时间相关）

目录 ／ 附录-1. 预测和证伪（V6.0）

一、前言
第63章以 β⁻ 转化的“同窗几何伴随效应”将转化事件表述为可定位的几何过程；第60–62章给出中子在近场纹理与环境耦合上的“对消型”指纹。本章给出与第63章镜像对应的 β⁺ 转化：p → n + e⁺ + νe。其判据不以末态清单为核心，而以“纹理切换—波包成核—缺失量相关”的同窗结构为核心。

二、预测（核心一句话）
在可控脉冲驱动跨越阈值 Pth 的条件下，β⁺ 转化事件将呈现“三联同窗指纹”：

• 中子态增长：在事件时刻 tβ 附近，局部近场纹理由“质子外向纹理型”切换为“中子对消型”，并与中子出现的经典读出（中子探测触发、反冲核读出或等效标记）时间同窗一致；
• 正电子波包成核：在同一时间窗内出现 e⁺ 波包成核读出，且 e⁺ 的近场纹理指纹与“正电外向型”同向一致，并与中子态增长形成显著的事件级时间耦合；
• 中微子波团时间相关：由中子与 e⁺ 的动量闭合得到的缺失量，与弱测通道上提取到的无色散公共项台阶/短促包络存在统计显著的事件级相关。
  当脉冲低于阈值（P<Pth）或脉冲关闭（P=0）时，上述三联同窗指纹显著弱化，不出现以脉冲触发为锚的可重复时间聚簇。

三、一句话目标
以“中子对消型纹理成形＋正电子外向型成核＋缺失量相关的无色散公共项台阶”三联判据，将 β⁺ 转化确立为可定位、可复验、可证伪的几何事件。

四、要测什么

1. 事件时间标记：
   • 正电子触发时刻 t⁺；
   • 中子（或反冲核）触发时刻 tn；
   • 脉冲触发时刻 t0；
   • 事件窗定义为 [t0, t0+ΔT]（ΔT 预注册并冻结）。
2. 中子态增长量：
   • 事件窗内中子出现率 Rn,on 与无脉冲基线 Rn,off 的差；
   • 与中子对消型一致的近场指纹量 Sn（分区反号/过零结构或等效指标）。
3. 正电子波包成核量：
   • 事件窗内正电子出现率 R⁺,on 与无脉冲基线 R⁺,off 的差；
   • 与正电外向型一致的近场指纹量 S⁺（OAM 手性散射符号响应或等效指纹）。
4. 同窗耦合量：
   • e⁺—中子符合计数的同窗概率 Pc(Δt)，其中 Δt = tn−t⁺；
   • 发射方向相对脉冲轴（或自旋定向轴）的角分布各向异性指标 A（方向翻转应可仲裁）。
5. 缺失量与弱测量：
   • 由可测动量闭合得到的缺失量 pmiss 与 Emiss（口径预注册并冻结）；
   • 弱测通道公共项读出 Δtcommon（或相位台阶 Δφcommon），要求跨频无色散且符号定义固定；
   • 相关量 Corr(pmiss, Δtcommon)（或 Corr(Emiss, Δtcommon)）在事件级样本上的统计显著性。

五、怎么做

• 驱动与阈值扫描：对脉冲强度 P 做多档位扫描并包含方向翻转（+P/−P）；每档位重复足够次数以建立事件聚簇统计与 Pc(Δt) 的稳定形状；Pth 以“聚簇起跳”在预注册统计口径下定义。
• 同位同窗布置：e⁺ 探测、中子（或反冲核）探测与弱测通道对转化区域同位布置；全部时间基准统一到同一时钟链路。
• 近场指纹并行采集：在不改变转化动力学的弱耦合条件下设置近场读出通道，持续采样 Sn 与 S⁺ 的符号与跃迁。
• 盲化：P 档位与方向随机编码；事件窗/非事件窗划分、Pc(Δt) 估计与公共项提取在未知 P 标签条件下完成；揭盲后仅执行预注册阈值、同窗耦合与相关检验。
• 闭合口径冻结：动量闭合、能量闭合与系统修正（效率、死时间、背景扣除）在采数前冻结，不得事后改写。

六、对照与空检

• 关闭脉冲对照（P=0）：事件分布不得呈现以 t0 为锚的时间聚簇结构；Corr(pmiss, Δtcommon) 不得与“伪 t0”相关。
• 低于阈值对照（P<Pth）：Pc(Δt) 与聚簇指标显著弱于 P≥Pth；若无差别则阈值结构失败。
• 方向翻转对照（+P/−P）：A 的方向性随翻转镜像，而 Pc(Δt) 的总体形状与 Corr(·) 的显著性不应被翻转破坏。
• 置换对照：随机置换 t0 标签或随机置换弱测数据段，Corr(pmiss, Δtcommon) 必须被打碎；若不被打碎则判为链路串扰或分析伪相关。
• 无色散空检：公共项读出在至少两种探测带宽/频段下保持无色散特征；若呈色散律或带宽依赖翻向，则判为介质/仪器项。

七、支持（通过）判据
同时满足以下三条，才算“通过”：

• 阈值聚簇成立：e⁺、中子与符合计数在事件窗内相对基线出现可复验的聚簇起跳，并可定义稳定 Pth；P<Pth 与 P=0 下聚簇显著弱化。
• 镜像几何指纹成立：Sn 呈中子对消型成形，S⁺ 呈正电外向型成核；Sn、S⁺ 与 t⁺、tn 的时间排序形成稳定耦合，Pc(Δt) 形状跨批次复现；方向翻转下 A 呈镜像响应。
• 缺失量相关成立：Corr(pmiss, Δtcommon)（或 Corr(Emiss, Δtcommon)）显著偏离零，并在置换对照下被打碎；公共项跨频无色散成立，且该相关仅在 P≥Pth 的聚簇事件中显著。

八、否证（未通过）判据
出现以下任一类稳健结果即可否证：

• 无阈值聚簇：随 P 扫描不出现稳定起跳，或 Pth 随口径/批次任意漂移。
• 无镜像同窗指纹：Sn、S⁺ 不呈稳定符号跃迁，或与 t⁺、tn 的关系仅为随机符合；A 在方向翻转下不呈镜像且不可仲裁。
• 无缺失量相关：Corr(·) 在通过置换空检后与零不可区分，或相关在 P=0/低于阈值对照中同样显著。
• 公共项可被色散/仪器解释：公共项呈色散律、带宽依赖翻向或可被已知串扰项完全复现。

九、系统误差与对策

• 脉冲串扰与触发伪相关：脉冲同步污染探测链路与弱测链路可制造假聚簇与假相关；电磁隔离、串扰上限监测、固定再稳定窗与 t0 置换对照并行。
• 符合计数的死时间与效率漂移：死时间可在事件窗制造假起跳；交错序列与实时效率标定并行；死时间模型修正口径冻结。
• 动量闭合的系统偏置：探测几何、刻度与背景会偏移 pmiss；对称几何与独立刻度源交叉校准；闭合误差在事件窗与非事件窗中应同分布且不得随 P 同步变化。

十、成败线（一句话版）
若脉冲驱动跨越阈值后，β⁺ 转化呈现可复验的“中子对消型成形＋正电子外向型成核”同窗几何指纹，并且缺失量与无色散公共项在事件级建立可被空检打碎的时间相关，则支持本章预测；若阈值、同窗指纹或相关任一项不成立，或空检同样显著，则否证本章预测。