目录文档-技术白皮书32-EFT.WP.Cosmo.LayeredSea v1.0

第6章 传播与到达时:层近域口径


I. 一句话目标

一句话目标:在层界 Sigma_sea 的分段框架下,统一两类到达时 T_arr 的计算口径,给出零厚度修正与厚层体积分的一致性判据、频带差分隔离 path term 的可执行流程,以及多路径/“回声”近似与数值收敛、审计与记录规范。


II. 范围与非目标


III. 术语与符号最小集


IV. 分段规则与两口径控制式(承接 S60-5)

  1. 分段规则
    • 以 { ell_i } 将路径 gamma(ell) 在 Sigma_sea 处分段,得到 gamma_i = gamma|_[ell_i, ell_{i+1}]。
    • 分段端点 显式入积禁止跨界面插值;端点与公差写入 interface_marks。
  2. 两口径控制式
    • 常量外提:T_arr = ( 1 / c_ref ) * ( ∑_i ∫_{gamma_i} n_eff d ell )
    • 一般口径:T_arr = ∑_i ∫_{gamma_i} ( n_eff / c_ref ) d ell
  3. 下界
    由 n_eff ≥ 1 得 T_arr ≥ L_path / c_ref(一般口径在被积函数内等价体现)。

V. 零厚度修正与厚层体积分的一致性

  1. 零厚度修正(薄层条件)
    当某层满足 Delta_k / L_char ≤ eta_w,可用事件型修正:Delta_T_sigma ≈ k_sigma · H(crossing),H 为穿越指示函数。
  2. 厚层体积分(非薄层)
    层内显式体积分:T_arr^{layer_k} = ∫_{layer_k} ( n_eff / c_ref ) d ell。
  3. 一致性量化
    • 定义 tau_switch = | T_arr^{thick} − ( T_arr^{thin} + Delta_T_sigma ) |;要求 tau_switch ≤ 预设门限(在 Contract 记录)。
    • 在 eta_w 邻域强制“双算”,不达标则固定采用厚层体积分并回溯端点公差与 SeaProfile 参数。

VI. 频带差分与 path term 隔离(承接 S60-4)

  1. 差分控制式(同一路径)
    • 常量外提:Delta_T_arr(f1,f2) = ( 1 / c_ref ) * ∫ ( n_path(f1) − n_path(f2) ) d ell
    • 一般口径:Delta_T_arr(f1,f2) = ∫ ( ( n_path(f1) − n_path(f2) ) / c_ref ) d ell
  2. 执行要点
    • 必须复用同一 { gamma[k], Δell[k] }、相同的分段与 Delta_T_sigma 设置;带外泄漏并入 u_sys 并在日志记录泄漏比。
    • 差分线性区/指定阶次由第3章频带模型与第7章计量流程给出。

VII. 多路径加权与“回声”近似

  1. 多路径加权
    • 设可观测路径族 { gamma_m } 与权重 { w_m },有 T_arr_total = ∑_m w_m · T_arr[ gamma_m ],∑_m w_m = 1(或幅度归一策略)。
    • 权重来源:几何、多层事件的 R_sea,T_trans,A_sigma、衰减/门限策略(在 Contract 固化)。
  2. 回声延迟近似
    • 若存在近层闭合往返长度 L_loop,第 k 级回声近似:Delta_T_echo(k) ≈ k · ∫_{loop} ( n_eff / c_ref ) d ell(一般口径)。
    • 回声识别与校核流程见第11章(验证)与第7章(计量)。

VIII. 离散实现与收敛判据

  1. 离散通式
    • 常量外提:T_arr ≈ ( 1 / c_ref ) * ∑_{k=0}^{N-1} n_eff( gamma[k] ) · Δell[k]
    • 一般口径:T_arr ≈ ∑_{k=0}^{N-1} ( n_eff( gamma[k] ) / c_ref( gamma[k] ) ) · Δell[k]
  2. 步长策略(三阈值触发)
    • 几何曲率 ‖ d^2 gamma / d ell^2 ‖ ≥ tau_geom;介质变化 | d n_eff / d ell | ≥ tau_medium;层强度 Xi_k(chi) ≥ tau_sea。
    • 在 { ell_i } 附近对称细化,端点单独计入局部误差。
  3. 收敛与一致性
    • 细化试验:| T_arr^{(fine)} − T_arr^{(coarse)} | ≤ eps_T;
    • 两口径一致性:eta_T = | T_arr^{const} − T_arr^{gen} | ≤ 阈值;
    • 薄/厚层一致性:tau_switch ≤ 门限;未通过即回溯分段与 SeaProfile。

IX. 口径选择与记录规范


X. 计量与标定流程(M60-7…M60-12)


XI. 接口与实现绑定(与模板接口族对齐,示例 I60-*)


XII. 合格判据与否证线


XIII. 交叉引用


XIV. 产出物


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首次发布: 2025-11-11|当前版本:v5.1
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